高能闪光照相中陡坡准直体成像性能实验.pdfVIP

核物理与等离子体物理 45 - S：—4：r(1r／)~Nj (1) — 8n Aj 式中： 为闪烁探测器中子灵敏度，、厂-·s； 为第 次测量的长计数器计数； ，为第 次测量中被测闪烁 探测器输出中子波形面积，V．Its； 为长计数器效率，定义为长计数器的净计数 Ⅳ(：(即扣除本底等因素引 起的计数后的计数)与长计数器表面法线方向单位立体角内的入射中子数 比；77为中子散射因子。 单次测量脉冲中子源的产额为 Yt=SAi (2) 式中， 为第 f次脉冲中子产额；A为第 i次闪烁探测器中子波形面积。 闪烁探测器响应时间决定于闪烁体发光衰减时间、闪烁体尺寸、光电倍增管渡越时间展宽、放大器时 间响应及分布参数等因素。采用单粒子法进行测量，给出探测器时间响应特征量半高宽、上升时间、衰减 时间等，忽略示波器的时间响应(因其远小于探测器的响应时间)，得到探测器时间响应函数特征量：上升 时间为23．5ns，半高宽为40．45ns，下降时间为37ns。 利用闪烁探测器进行脉冲中子产额测量的不确定度主要 由中子灵敏度标定不确定度和面积测量不确 定度决定。根据式(1)、式(2)可得闪烁探测器测量单次脉冲中子产额的相对标准不确定度为 = J【 nc + 式中， ：! ，为闪烁探测器的单个通道的统计涨落。甜(1一 zf(功，—u(NO： — 1 _l，而! 2： Aj A Nt 、J A 很小可以忽略，故式(3)可以简化为 = 、／【 c 1+ 式(4)的前3项主要与长计数器的散射因子、效率及总计数的不确定度有关，第4项中子波形面积 的 不确定度与双通道闪烁探测器各个通道的统计涨落有关，由闪烁探测器中的核反应过程的统计涨落和测量 仪器的测量不确定度组成，实验中，用相对比较法和中子激活探测器作为中子产额，该相对值证明了在中 子产额测量范围内面积测量的不确定度约 5％。根据式(4)不确定度数据计算得到单次脉冲中子产额测量的 标准不确定度约为 7％，综合考虑脉冲中子源出射中子分布的不均匀性、长计数器距离测量的不确定度、 空气对靶中子的衰减作用、将长计数器视为点探测器所带来的不确定度等计算得到闪烁探测器中子产额测 量相对不确定度小于 10％。 2．26 高能闪光照相中陡坡准直体成像性能实验 肖智强 刘 军 胡八一 刘瑞根 高能(20MeV)闪光x光照相技术在国防科研中有广泛的应用背景。FTO样品是由高密度、高原子序数 材料组成的大光程4层同心球壳组件，是专门用于考察闪光照相成像质量的静态测试样品。对FTO样品进 行闪光照相时，散射非常严重，因此选择合适的准直方式来降低散射对清晰图像的获得非常重要。研究表 明，散射主要来 自于后防护锥和FTO样品自身，样品散射又主要是由于外层的轻物质引起的，因此减小射 向后锥和样品外层区域的x射线照射量，从源头上降低散射产生的机会，就成了准直设计中优先考虑的技 术措施，陡坡准直体(又称倒锥准直体或坡度准直体)可实现这种降散射的目的。直观上看，陡坡准直体与 46 中国工程物理研究院科技年报 一 般喇叭形准直体的不同之处在于使用时其大孔端对着x光源，小孔端对着被照样品，如图1所示。实验 比较了一般准直体与陡坡准直体在FTO样品照相中的降散射功能。