电解质中氧化铝含量的测定方法探讨.pdfVIP

· 58 · 轻 金 属 2011年第3期 · 分析检测 · 电解质中氧化铝含量的测定方法探讨 袁 艺 (中国铝业贵州分公司技术研发中心 ，贵州贵阳550014) 摘 要：对测定电解质中氧化铝含量的方法进行了探讨与研究，试验结果表明各种分析方法存在较大差异。 关键词：电解质；氧化铝；测定方法 中图分类号：TF03，TF821 文献标识码：B 文章编号：1002—1752(2011)03—58—2 Discussion0n determinationmethodofaluminacontentinelectrolyte YUAN Yi (TechnologyCenterofGuizhouBranch，Chalco，Guiyang550014， ina) Abstract：Thedeterminationmethodofaluminacontentinelectrolyteisdiscussedandresearched．Theresultsshowthatthereexistmuchdifferenceamong allkindsofanalysismethod． Keywords：electrolyte；alumina；detemr inationmethod 铝电解质是电解铝工业生产中的中间物质，其 响，测量光路中空气的影响，电解质中SiO：、Fe：O， 酸碱度(分子比)和化学组成等技术指标直接关系 等氧化物的影响等、最主要的是氧 (O)、钠 (Na)电 到铝电解生产的电流效率和产量，因此，铝电解质的 频分析波峰叠加的干扰，我们通过测定纯氟化钠 化验分析是一项极其重要的工作。在电解质中氧化 (NaF)中氧的强度，得出O／Na强度比系数，扣除干 铝含量的多少对电解槽智能模糊控制非常重要。电 扰。 解质中氧化铝含量的多少与槽表观电阻呈一定的关 1．2 X一荧光法通过”F”道间接测定 系，通过对氧化铝加人量的适当控制，维持低含量氧 荧光需要测定电解质中的元素有：铝 (AI)、氟 化铝浓度，可减少沉淀的产生及阳极效应的发生，明 (F)、钙(Ca)、镁(Mg)、钠(Na)、钾 (K)等。由于荧 显提高电解槽的电流效率。 光测定的铝(A1)为总铝，即氟化铝 (A1F)和氧化铝 但是由于在 电解槽中受温度等影响，无法进行 (AI：O。)中铝的总量；测定的氟 (F)为总氟 (F)，即 铝电解质的在线检测，加之从电解槽中取出后受冷 氟化铝(A1F，)、氟化钠 (NaF)、氟化钙 (CaF：)、氟化 却速度等影响，其中的物质形态，即物相结构会随之 镁 (MgF)、氟化锂 (LiF)和氟化钾 (KF)中氟的总 发生变化，所以目前国内对铝电解质的物相结构尚 量，因而，在用 x一荧光测定电解质时，其关键是要 无准确确定，且国内的铝电解质分析方法和水平参 确定氟化铝(A1F)的测定方法。 差不齐，对其的化验分析也无统一分析标准，给化验 根据衍射扫描电解质中的氟化物基本上由下列 分析带来了不利影响，严重制约了电解铝生产工艺 物质组成：氟化铝 (Al )、氟化钠 (NaF)、氟化钙 的发展。 (CaF)、氟化镁 (MgF)、氟化锂 (LiF)和氟化钾 为提高电解质中氧化铝测定的分析准确度，本 (KF)。利用测定出的总氟 (F)量减去除氟化铝 文对 目前采用x一射线荧光光谱直接压片法以及化 (A1F)之外的其他氟化物中的氟