微结构平面旋转运动角度测量的分析.pdfVIP

摘 要 微机电系统(MEMS)近几年得到了快速的发展并已步入产业化阶段。在 MEMS的产业化进程中，测试技术越来越得到国内外许多MEMS研究机构的重 视，其中MEMS动态特性测试技术在MEMS研发和产业化过程中具有重要的意 义。 目前微结构平面运动测试方法在平移测量已趋于成熟，而在角度测量方面却 很少涉足，目前还仅有几种方法，而且分辨率不够。本文对相位相关结合Radon 变换求取相关函数的方法，基于Hough变换和直线边缘提取技术角度测量方法， 以及基于区域质心不变性方法进行了深入的研究，并最终得出相位相关法不适合 角度测量，而直线边缘提取求取斜率方法和区域质心不变性方法都能很好的实现 角度测量，并实现了很高的分辨率。论文的主要工作包括以下几个方面： 1．对相位相关方法和Radon变换进行研究，提出结合相位相关及Radon变 的技术的角度测量方法。通过Radon变换，将MEMS图像从空间坐标转换到极 坐标P一0下，角度的变化在极坐标下表现为图像在0方向上的平移。将极坐标 下的两幅图像在进行相位相关计算，得出在p方向上的平移量，即图像的旋转量。 2．对基于Hough变换及直线边缘提取技术的角度测量方法进行了研究和实 现，研究该方法是否适应于MEMS器件角度测量。通过边缘检测技术得到图像 的边缘直线特