电子教材-关于量子进化算法的时序电路测试生成.pdfVIP

基于量子进化算法的时序电路测试生成 李智 范源远 许川佩 （桂林电子科技大学电子工程学院桂林 541004 ） 摘要:本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点， 本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中，建立了时序电路的 量子进化算法测试生成模型。在国际标准电路上的验证结果表明，与同类算法相比，该算法 模型可获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。 关键词：量子进化算法 自动测试生成 时序电路 中图分类号: TP274 ; TN407 文献标识码: A Test Pattern Generation Based on Quantum Evolutionary Algorithm for Sequential Circuits Li Zhi Fan Yuanyuan Xu Chuanpei (School of Electronic Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, 541004, China) ABSTRACT: This paper presented some results obtained by applying quantum evolutionary algorithm in sequential circuits test pattern generation （ATPG ）. In the paper, concepts like qubit and superposition of quantum computation were introduced to conventional evolution algorithm, to build a quantum-inspired evolution algorithm model for ATPG. Experiments on ISCAS benchmark shows, compared to other similar algorithm, the proposed algorithm can achieve higher fault coverage and more compact test sets. KEYWORDS: quantum-inspired evolution algorithm, ATPG, sequential circuit 量子进化算法是一种结合了量子计算概念和思想的进化算法，它借鉴了量子计算中的复 合位和叠加态等思想，采用了量子态的编码形式和交叉变异的方法，收敛速度显著提高，具 有很好的搜索和数据挖掘能力。Kuk－Hyun Han，Jong—Hwan Kim[1] [2] 和杨淑媛，焦李成 在 这方面做了深入的研究，为解决组合优化问题提供了有力的工具。 量子进化算法应用在许多领域中都取得了良好的效果，已有的应用领域包括电网优化， 图像边缘检测等等。根据文献[2] 的研究，量子进化算法与其他同类算法相比，找到最优解所 需的迭代次数大大减小，迭代所需的时间增加有限，求解性能的提高是显著的。本文采用了 基于模拟的测试生成算法，结合量子进化算法的优点，通过故障模拟器，只做前向处理，避 免了回溯的复杂性，有利于实现快速高效的测试生成。 1 量子进化算法 1.1 量子计算 量子计算理论来源于量子力学理论的基本概念。经典计算机的存储单元是比特,它只有 两种状态,要么为0 ,要么为1；而量子计算最基本的存储单元是量子比特,它是一个二维Hilbert 空间的量子体系,这个空间有两个基,分别记为| 0〉和| 1〉。与经典计算机中的比特不同的是, 量子比特的状态可以为任意的归一化态: α| 0〉+ β| 1〉，其中α和β为满足归一化条件