基于GEM 的高能X-CT 探测的MCNP 模拟 - CT理论与应用研究.PDF

第23卷 第 3 期 CT理论与应用研究 Vol.23, No.3 2014年5月（435-442） CT Theory and Applications May, 2014 郑莉君, 刘义保, 王爱星. 基于GEM的高能X-CT 探测的MCNP 模拟[J]. CT 理论与应用研究, 2014, 23(3) : 435-442. Zheng LJ, Liu YB, Wang AX. Simulation of high energy X-CT detector based on gas electron multiplier by MCNP program[J]. CT Theory and Applications, 2014, 23(3): 435-442. 基于 GEM 的高能X-CT 探测的 MCNP 模拟  郑莉君 1，2b ，刘义保1，2a，王爱星1，2a 1.核技术应用教育部工程研究中心（东华理工大学），南昌330013 2.东华理工大学 a.理学院；b.核工程技术学院，南昌 330013 摘要：使用蒙特卡罗方法中的MCNP程序，对不同能量不同材料的探测器的光电转换效率进行模 拟研究。研究结果表明选用不同密度的薄金属片作为光电转换体，X光子的转换效率有明显变化， 具有可观的应用开发前景。 关键词：气体电子倍增器；高能X射线；工业CT；MCNP 文章编号：1004-4140（2014）03-0435-08 中图分类号：TP391.41 文献标志码：A 气体电子倍增器（Gas Electron Multiplier，GEM）探测器是 20 世纪 90 年代后期欧 洲核子中心（Conseil European Pour Recherches Nucleaires，CERN）开发的一种新型气 体探测器，主要是通过特殊的多孔导电膜来改变工作气体中的电场分布，使得原初电子在 GEM 膜孔内的强电场作用下产生雪崩现象，从而有效提高电子的放大倍数，得到较大的电子 信号[1]。基本部件是两面敷铜并在其上面蚀刻出大量微孔的聚酰亚胺（kapton）膜，工作时 在两侧铜面上加高电压，电子在孔内雪崩，对初电离进行放大。 该探测器具有高计数率、良好的位置及时间分辨、抗辐射、读出方便及质量轻等一系 列优点[2]，与不同转换材料共用时可探测中子、光子以及 X射线等，选用高密度的薄金属片 作为光电转换体，可有效地提高 X 光子的转换效率，但同时也要考虑光子与材料相互作用 产生的电子从薄金属片中逃逸出来。GEM 探测器具有优异的位置分辨（ 100μm）、很好的耐 6 2 [4] 辐照性能、读出方便、可以在很高的计数率（10 Hz/mm ）条件下工作等特点 。因此，与 不同转换体连接使用可以探测不同能量的射线。 1 工业X-CT 的探测器的原理与性能 工业 X 射线 CT（Industrial X-ray Computed Tomography，IX-CT）是工业 X 射线计算 机层析成像或工业用 X计算机断层扫描成像的简称[5]。系统通常由射线源系统、探测器系统、 [6] 数据采集系统、机械扫描运动系统、控制系统、计算机系统及图形输出设备等部分组成 ， 如图 1 所示。高能 X 射线穿过工件与被检物体相互作用后，辐射探测器接收穿透工件后的 射线信号，检测器信号经放大、A/D 转换处理后送入计算机成像。其中，X 射线探测器是 收稿日期：2013-11-22。 基金项目：核技术应用教育部工程研究中心基金项目（HJSJYB2011-05）；江西省高等学校科技落地计划项 目（KJLD12076）。 436 CT理论与应用研究 23卷