材料结构表征及应用思考题.docxVIP

第二章1、什么是贝克线？其移动规律如何？有什么作用？在两个折射率不同的物质接触处，可以看到比较黑暗的边缘，在这轮廓附近可以看到一条比较明亮的线细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条明亮的细线称为贝克线。贝克线的移动规律：提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动。根据贝克线的移动，可以比较相邻两晶体折射率的相对大小。2、单偏光镜和正交偏光镜有什么区别？单偏光下和正交偏光下分别可以观察哪些现象？单偏光（仅使用下偏光）下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理、颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性，比较晶体的折光率（贝克线移动），用油浸法测定折光率等，对矿物鉴定十分重要。正交偏光镜：联合使用上、下偏光镜，且两偏光镜的振动面处于互相垂直位置。可看到消光现象、球晶。第三章1. 电子透镜的分辨率受哪些条件的限制？透镜的分辨率主要取决于照明束波长λ。其次还有透镜孔径半角和物方介质折射率。2. 透射电镜主要分为哪几部分？电子光线系统（镜筒）、电源系统、真空系统和操作控制系统。3. 透射电镜的成像原理是什么？透射电镜，通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。热阴极发射的电子，在阳极加速电压的作用下，高速穿过阳极孔，然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。具有一定能量的电子束与样品发生作用，产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多种信息。透过样品的电子束强度，其取决于这些信息，经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像，经过中间镜和投影镜进一步放大，在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像，还可将其记录在电子感光板或胶卷上。4. 请概述透射电镜的制样方法。支持膜法，复型法、晶体薄膜法和超薄切片法。高分子材料必要时还需染色、刻蚀。5. 扫描电镜的工作原理是什么？由三极电子枪发射出来的电子束，在加速电压作用下，经过2～3个电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。这些物理信号分别被相应的收集器接受，经放大器放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。由于供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也就是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源，此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。因此，样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。这样，在长余辉荧光屏上就形成一幅与样品表面特征相对应的画面——某种信息图，如二次电子像、背散射电子像等。画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。6. 扫描电镜成像的物理信号包括哪几种？二次电子、背散射电子、吸收电子、X 射线、俄歇电子等7. 相对于光学显微镜和透射电镜，扫描电镜各有哪些优点？SEM的景深大、放大倍数连续调节范围大，分辨本领比较高、能配置各种附件，做表面成分分析及表层晶体学位向分析等8. 为什么透射电镜的样品要求非常薄，而扫描电镜无此要求？在透射电镜中，电子束是透过样品成像的，而电子束的穿透能力不大，这就要求试样制成很薄的薄膜样品。而扫描电镜是通过逐点扫描进行成像。9. 能谱仪的工作方式包括哪些？1)定点元素全分析(定性或定量)2)线扫描分析3)面扫描分析第四章1.连续X射线和特征X射线的产生、特点。连续X射线：强度随着X射线管的管电压增加而增大，而最大强度所对应的波长λmax变小，最短波长界限λ0减小。特征X射线：强度大大超过连续谱线的强度并可叠加于连续谱线之上，这些谱线不随X射线管的工作条件而变，只取决于阳极靶物质。2. X射线衍射原理。X射线作为一电磁波投射到晶体中时，会受到晶体中原子的散射。由于原子在晶体中是周期排列，这些散射球面波间存在固定的位相关系，它们之间会产生干涉，结果导致在某些散射方向的球面波相互加强，而在某些方向上相互抵消，从而出现衍射现象。3.布拉格方程的物理意义。（1）结构分析：利用已知波长的特征X射线，通过测量角，可以计算出晶面间距d；（2）X射线光谱学：利用已知晶面间距d的晶体，通过测量角，从而计算出未知X射线的波长。4. X射线衍射实验方法。粉末衍射法、劳厄法、转晶法5.粉末衍射仪的工作方式、工作原理。工作方式：（1）连续扫描—试样和探测器以1:2的角速度作匀速圆周运动，在转动过程中将探测器依次接收到的各晶面衍射信号输入到记录系统或数据处理系统，获得的衍射图谱。（2）步进扫描—试样每转动一定的角度Δθ即停止，在这期间，探测器等后续设备开始工作，并以定标器记录测定在此期间内衍射线的总计数，然后试样转动一定角度，重复测量，输出结果。工作原理：测试时试样和探测器分别以ωs和ωc的角速度转动，试样表面始终平分入射线和衍射线的夹角2θ，当2θ符合某晶面对应的布拉格条件时，探测器计数管接收的衍射信号就是由晶面平行于