基于微放电加工元件轮廓测量的探针制造.pdfVIP

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第2卷第2期 纳米技术与精密工程 Vol一2No·2 2(K)4 2004年6月 Na肿t盹hnolo科蛐d脚ecj商蚰Eng_m∞血嚷 Jun ofProbesforPronle of Fabrication Micro.EDMManufactured Components KAWADA Masayoshil,M17I_sUIKimiyuki2 244_8510,Japan (1.BridgestoneCo。PorBtion,lKashio-cho,T0tuka.ku,Yokohama,KanagBwa ofMechanical 2.Depanment Engin神d“g,Ke沁university,3—14-1Hiyoshi, K0uhku-ku,YokohBma,K卸89awa223—8522,J8”“) ordertofacilitatetheadvance皿entofmicm—fab—caLionandmicmmachine of Abstract:In measurementmethodsforbot}l anddimensionof arees唧ti甜.0ne0f曲∞methodsBvailablefor profjle IIlicro—components thisi8H哪llthree—dimensional with must pm6leⅢ髓surementapparatusmicr。一probes.F0rsuch明8pparatus.廿把pmbes befabricated di毗h甜gemachining wi山op垃m且Ish叩。for 0f 0f has 5mall f缸ceⅡnd forhbncationVadous (micm.EDM)whichextrernelymachimng i8印plicable oyp8spmbes。诂 of to whicha弛installedthesmaUth唧dimensionalmeasu打ng us副r0‘pmbemanufacludng.V“oustyPespmbes pr06le b船edon of fab—cated scanning byth。pmP吣ed 印pamtus p—nciPk tunneliogⅢjcmscopy(sTM)aIcme【

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