IEC 61988-2-3国际标准提案介绍.pdfVIP

目- 鹰蔫 编者按 lEcTC¨10平极显示器件技术委员会的三个工作组：wG2(液晶显示’器件)、wG4(等离子体显 示器件)、1I^G『5(有机发光二极管显示器件)和新成立的项 目组(液晶用背光源模块)于20o8年5月17--25E1 在美国洛杉矶分别召开了工作组会议 此次会议涉及了我国在该领域的多项国际标准提案，现在各项提案 进展顺利。本刊特别邀请负责这些制定国际标准提案的国内著名专家，同时也是IEC工作组的专家撰稿 详 细介绍我国各项提案的进展情况。 。 。 我国提案有：WG2纽——IEC6747--6- 液晶显示器件 第6—5部分 有源矩阵LCD模块运动伪像测 量方法；WG4纽—一 lEc61988--2--3等离子体显示器件 第2--5部分：测试方法 图像质量；WG5组—一诩_G 62；341--6--l有机发光二极管显示器件 第6--1部分：光学和光电参数测试方法；我国新工作提案 “IIEEC62341— 6--5有机发光二极管显示器件 6--5部分：图像质量测试方法”。 j IEC61988_23·国际标准提案介绍 TheAdvanceofInternationalStandardProjectofIEC61988-2-·3 TCL集团工业研究院 黄卫东 摘 要 介绍了由中国提出并负责起草的IEC 1引言 61988-2-3 等离子体显示器件 第2-3部分：显示质 lEO 61988-2-3 《等离子体显示器件 第 2-3部分： 量测试方法))国际标准的内容和制定过程，对标准中的 显示质量测试方法》国际提案从 2003年被 JEC TC110／ WG4立项到2008年 ，经历了五年的时间，目前一个不涉 一 些关键指标进行了描述。 及专利问题的有关测试方法的技术标准已经完成了CDV征 关键词 IEC61988-2—3 等离子体 显示质量 求意见稿 ，IEC中央办公室正在准备FDIS文件 。对我国而 测试方法 言，一项由中国主持制定的IEC国际标准即将诞生 。 Abstract：P f口，zdworkingp ofthP 2标准进展 1ECPDPstandard．measuringmethodsofquality,whichwas IEC 61988-2-3 《等离子体显示器件 第 2-3部分 ： 显示质量测试方法》是 lEO TC110平板显示技术委员会 suggestedandpreparedbyChina，wereintroduced．Some 下属PDP工作组(WG4)~JI定的系列标准中的一项。该标准 discussionofkeypointswasalsodescribed 在2002年北京举行的第 66届 IEC年会上由中国代表团提 Keywords：IEC61988—2—3：plasma；quality； 出 ，2003年获得 lEO TO11O／WG4立项批准 ，项 目负责 人为TCL集团闫晓林博士。TO110／WG4成员基本来 自 measuringmethods 世界上主要 POP模块厂家 (如 日本的NEC、松下、先锋 ； 韩国的 SAMSUNG、LG)，中国虽然当时没有PDP模块 的生产企业 ，但整机产品在市场上非常