测试范围 - Keysight.PDF

是德科技 测试范围: 通过电路板测试时意味着什么? Article Reprint 2 | Keysight | 测试范围: 通过电路板测试时意味着什么? －Article Reprint 摘要 1简介 将电路板测试范围表示为拥有测试数据 在过去，可用于测试电路板的在线测试(ICT) 技术相对较少，但是电路板具有 “完全 的器件或节点的百分比，并不能精确地 的”节点接入(通常在95-100% 之间) 。这样，通过记录具有有效测试结果的电路板 表达出它的含义，这一点在包含各种测 器件所占的百分比，可以从根本上测量测试范围。同样地，可以通过可接入的节点 试方法(例如可视和穿透性测试、典型的 来简单测量短路范围。 在线测试) 的受限接入测试环境中尤为适 用。可以通过制定一个名为缺陷范围的 器件范围= 具有测试结果的器件数目 潜在缺陷列表来更好地描述测试范围， 器件总数 此时不必考虑所选测试策略的能力。根 短路范围= 可接入的节点数目 据缺陷范围对每个测试流程的能力进行 节点总数 分级可用于测量这一范围。对于大部分 的电子行业，缺陷范围的定义具有实用 这种范围计算方法存在一些很容易被接受的漏洞。例如，通过模拟测量对普通电阻进 意义，并且为范围测量标准和对比提供 行测试，这被视为是较好的测试。采用手动导出的测试矢量对数字器件进行测试，其 一个始终如一的框架。 中很多矢量会因为拓扑限制而被舍弃。这种测试效果有什么好? 没有证据表明这些矢 量能够测试所有的器件。1 事实上，根据对数以千计的真实电路板(参见[Schl87]) 进行 研究已经表明，已经顺利通过的测试并不能保证电路板的完好性。其他的测试范围漏 Defect universe 洞示例包括: Tester A Tester B ‾ 电子测试方法[Tege96] 无法检测到的冗余电源和接地引脚。 2 1 1 ‾ 电子测试方法无法检测到的并联旁路电容。 3 2 2 ‾采用非加电开路测试[Park96] 和边界扫描[IEEE01] 等测试技术测试虚焊点。 1 Tester C 在过去的十年里，受限接入电路板和受限接入测试技术先后产生，它们旨在恢复因接入 点匮乏而造成的范围损失。如今的电路板具有更高的接入限制，预计小于 20% 接入的    图1: 缺陷范围的维恩图, 显示了3 种不同测试技 电路板已很常见。 术可能重叠的部分, 以及可测试给定缺陷的测试 仪数量。 2 3 最终，基于可视和穿透性检测(AOI 和AXI ) 的全新测试方法已经出现。没有一种方