激光束模拟剂量率效应关键技术分析 - 太赫兹科学与电子信息学报.PDF

第 15 卷 第 1 期 太赫兹科学与电子信息学报 Vo1.15，No.1 2017 年 2 月 Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technol ogy Feb.，2017 文章编号：2095-4980(2017)01-0139-06 激光束模拟剂量率效应关键技术分析 * 岳 龙，张战刚，何玉娟 ，郝明明，雷志峰，刘 远 (工业与信息化部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室，广东 广州 510610) 摘 要 ：剂量率效应是电子元器件和系统的抗辐射鉴定考核中不可缺失的项目。脉冲激光束 是一种较好的模拟剂量率效应的手段。相比传统脉冲 X 射线装置，利用激光束模拟剂量率效应， 脉冲输出稳定，寄生电场效应低，可进行器件微区辐照，而且激光束模拟剂量率装置易实现，剂 量率试验的时间和成本均远低于高能 X 射线辐射试验。虽然激光束模拟剂量率装置具有上述优 势，但由于激光束本身的特性，这种方法具有一定的局限性，其中高功率激光的非线性吸收、器 件金属线的遮挡效应会严重影响激光束模拟剂量率效应的适用性。因此必须通过适当的试验设计 和理论修正才能获得相对准确的剂量率试验结果。本文从激光束模拟剂量率效应原理出发，详细 阐述影响激光束剂量率模拟试验适用性的因素，并分析克服这些影响因素的途径，以指导激光束 模拟剂量率效应装置的开发和应用。 关键词 ：激光束；剂量率效应；模拟等效性；抗辐射加固 中图分类号 ：TN43 ；R852.7 ；V438+ .4 文献标志码 ：A doi ：10.11805/TKYDA201701.0139 Key techniques of pulse-laser simulation of dose rate effects * YUE Long，ZHANG Zhangang ，HE Yujuan ，HAO Mingming，LEI Zhifeng，LIU Yuan (Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component，The Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology，Guangzhou Guangdong 510610， China) Abstract： Dose rate effect is a mandatory examination item for devices used in nuclear events. Pulse laser sources are widely used for dose rate effects simulation. Compared with transient high dose rate gamma source, a traditional dose rate effects simulation facility, the pulse laser source shows several advant