hpge探测器体源效率面源模拟刻度技术 the simulation calibration technology of disk source for standard source efficiency of hpge detector.pdfVIP

第33卷第2期 核电子学与探测技术 V01．33No．2 2013年2月 Nuclear Feb．2013 Elec嘶licsDetection’Iech办Dlogy HPGe探测器体源效率面源模拟刻度技术 田自宁1’2，欧阳晓平1’2，冯天成2，雷震2，李安2，周腾飞2 (1．清华大学工程物理系，北京100084；2．西北核技术研究所，西安710024) 摘要：使用面源模拟刻度体源不同高度处薄层的探测效率，随高度积分获得了妒5咖×25咖 2‘1Am体源及气态241Am源的探测效率，模拟刻度结果和LabSOCS计算值的偏差在±7％以内。同理，使 mm×25 Xe 用LabSOCS无源效率刻度技术进行面源分层刻度计算，并随高度积分获得妒5mm尺寸玎3 气体源和1”cs液体源探测效率，模拟刻度结果和Labsocs计算值的偏差在±1％以内。实验和理论计 算证明面源模拟刻度技术是有效可行的。相对体源刻度技术，面源刻度可以省去样品源制作及运输，大 大提高工作效率。 关键词：面源；LabsOCS；效率刻度 中圈分类号： TL81 文献标志码： A 文章编号：0258JD934(2013)02—0130·05 环境放射性测量是对各种放射性样品源进 率刻度相对较少。 行1谱探测和分析。效率刻度…和分析是其 1面源模拟刻度体源的方法原理 中一个重要过程，只有得到准确可靠的效率刻 度曲线，才能得到有效的放射性活度浓度。要 如图1所示，实际测量的圆柱状样品高度 探测某一形状的样品源，需先制作与样品源尺 为日，将其置于探测器上方进行能谱测量。使 寸、基质相同的标准源，通过该标准源对探测器 用面源刻度时，将“空白”样品(该样品与实际 进行探测效率刻度，然后才能对样品源进行探 测量样品形状、成分、密度一致)切割成5个密 测。当样品源的形状不规则且各不相同时，制 度和成分与“空白”样品相同，高度等间隔增加 作、购买、运输样品源会耗时费力，大大降低工 的小样品。面源放置在小样品上测量其探测效 作效率。 率￡，通过对探测效率8与样品高度^最小二 乘曲线拟合得到关系￡(^)，则探测器对于整个 针对上述问题，本文一方面采用hbSOCS 软件实现液体源和气体源的无源刻度，省去用 标准源刻度的过程，提高工作效率。另一方面， 使用面源刻度技术【2】，确定面源探测效率随高 度的变化关系8(^)，积分获得体源和气态源的 探测效率，二者比较，验证了面源模拟刻度体源 技术的可行性。一般使用点源模拟面源进行效 图1面源和HPGe探测器的几何形状 率刻度的研究∞。51较多，直接使用面源进行效 土壤样品的探测效率可表示为式(1)‘21。 收稿日期：2012一07一04 卸=吉卜(^)眠 (1) 作者简介：田自宁(1980一)，男，新疆精河县人，工程 一般探测效率又是峰计数率的函数如式 师，硕士学位，在读博士研究生，核技术及应用专业。 130 万方数据 (2)所示。 (2) ^r