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2017-07-28 发布于江苏
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试験分析料金表

試験分析料金表（公財）神奈川科学技術アカデミー 1　受託分析（消費税等8%を含みます）平成26年 4月 1 日（1）電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM / EDS）単位：円項　　　目単　　　位金　　額 1条件につき 19,440 観察倍率 5万倍未満 1条件追加につき 4,320 1条件につき 28,080 表面微細形態・構造観察観察倍率 5万倍以上10万倍未満 1条件追加につき 8,640 1条件につき 49,680 観察倍率 10万倍以上 1条件追加につき 14,040 エネルギー分散型X線分析装置（EDS） 1条件につき 14,040 （で撮影したものに限る）条件追加につき FE-SEM 1 4,320 面分析1条件につき（5元素まで） 15,120 面分析1元素追加につき 2,160 （）集束イオンビーム装置（） 2 FIB 項　　　目単　　　位金　　額 FIB 1時間以内 32,400 追加1時間あたり 28,080 FIB （連続自動加工）追加1時間あたり（但し、設定可能なものに限る） 16,200 FIBオプション（上記FIBの料金に加算）　カーボン膜デポジション 10分あたり 2,160 　タングステン膜デポジション 10分あたり 2,160 　マイクロプロービングシステム 1時間あたり 17,280 　アルゴンイオンミリング 30分あたり