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CSO_WuWeiqing Lucent Technologies Information Communications of Shanghai, Ltd. 同步数字体系(SDH) 测试方法 比特率(kbit/s) 容 差 码 型 测试用PRBS 2048 (vc12) 34368 (vc3) 139264 (vc4) 155520 ±50 x 10-6 ±20 x 10-6 ±15 x 10-6 ±20 x 10-6 HDB3 HDB3 CMI CMI 215-1 223-1 223-1 223-1 * CSO_WuWeiqing Lucent Technologies Information Communications of Shanghai, Ltd. 同步数字体系(SDH) 测试方法 1. 光接口特性测试 1.1 光源工作波长 -- 光谱分析仪或光波长计 主纵模中心波长 1.2 最大均方根谱宽 σrms ( LED MLM) -- 光谱分析仪 σ2rms表示规定光谱积分区内的总功率，积分区的边界功率相对于主峰跌落 20dB-30dB. 1.3 最大 -20dB谱宽 ( SLM) -- 光谱分析仪 选取光功率下降到 - 20dB的点对应的波长 λ１和 λ２，σ -20=λ２- λ１。 1.4 最小边模抑制比 ( SLM) -- 光谱分析仪 在最坏反射条件下，全调制时，主纵模的平均光功率与最显著边模的光功率之比得最小值。 1.5 平均发送光功率 -- 光功率计 平均发送光功率是发送机耦合到光纤的伪随机数据序列的平均功率在 S 点的测试值。 * CSO_WuWeiqing Lucent Technologies Information Communications of Shanghai, Ltd. 同步数字体系(SDH) 测试方法 1.6 发送信号波形 ( S点发送信号眼图) -- 示波器 1.7 消光比 -- 示波器 在最坏反射条件时，全调制条件下，传号平均光功率与空号平均光功率的比值。 1.8 接收机灵敏度 1.9 接收机过载光功率 1.10 接收机在“R”点最大反射系数 在 R 点的反射光功率与入射光功率之比。 1.11 最大光通道代价 由于反射，码间干扰，模式分配噪声，激光器等引起的总色散功率代价。 1.12 光输入口允许频偏 1.13 光输出口 AIS 速率 * CSO_WuWeiqing Lucent Technologies Information communications of Shanghai, Ltd. 同步数字体系(SDH) 测试方法 2. 电接口特性测试 2.1 输出口信号比特率 2.2 输出口波形 --示波器 输出口终接测试负载阻抗条件下的输出波形。 2.3 STM-1 电口输出口信号眼图及功率--示波器 2.4 输入口允许衰耗 2.5 输入口允许频偏 2.6 输入口抗干扰能力 2.7 输入，输出口反射衰减 2.8 输入，输出口过压保护能力 * CSO_WuWeiqing Lucent Technologies Information Communications of Shanghai, Ltd. 同步数字体系(SDH) 测试方法 3. 抖动和漂移性能测试 3.1 SDH 设备 STM-N 口输出抖动的产生 3.2 SDH 设备 STM-N 输入口的抖动容限 3.3 SDH 再生器的抖动传递特性 3.4 SDH 数字段的输出抖动 3.5 SDH 数字段输入口的抖动和漂移容限 3.6 PDH 支路口的输入抖动和漂移容限 3.7 PDH 支路口的映射抖动 3.8 PDH 支路口的结合抖动 * CSO_WuWeiqing Lucent Technologies Information Communications of Shanghai, Ltd. 同步数字体系(SDH) 测试方法 4. 定时和同步测试 4.1 时钟接口 4.2