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14-32 步骤2：以可变截面扫描方式创建实体特征：【垂直于原始轨迹】 绘制剖面（此时的高度尺寸可为任意数值）。 选取轨迹线 原始轨迹线 x向量轨迹线 在【草绘】下拉菜单中选取【关系】/【增加】选项，输入如下关系式，以控制剖面的高度：sd5=sin(trajpar*360)+1.5。再生图形后，该高度变为1.5，则表示关系式输入成功 * 14-33 步骤3：修改x向量轨迹线的角度90°为120°(对基准曲线作修改) 修改角度后的实体特征 * 14-34 步骤4：修改剖面的关系式: 依次选取【特征】/【重定义】选项，选取扫描特征，在模型对话框中选择截面作重定义。 更改剖面如图所示，左侧尺寸为1.5，右侧尺寸任意 在【草绘】下拉菜单中选取【关系】/【增加】选项，输入如下关系式，以控制剖面右侧线段的高度：sd8=cos(trajpar*360)+2。再生图形后，右侧高度变为3，则表示关系式输入成功 * 14-35 图14-15 例14-4题图 例14-4 使用关系式搭配基准图形及trajpar参数控制剖面参数的变化，创建如图14-15所示的实体模型。 * 14-36 步骤1：创建第1个基准图形：在【插入】下拉菜单中依次选取【基准】/【图形】选项，输入图形名称为“gr1”，系统自动进入二维草绘模式，插入一个坐标系，绘制如图所示的圆锥曲线 创建步骤如下： 第1个基准图形“gr1” 画中心线 画中心线 * 14-37 步骤2：创建第2个基准图形：用同样的方式创建基准图形，输入图形名称为“gr2”，系统自动进入二维草绘模式，插入一个坐标系，绘制如图所示的样条曲线 第2个基准图形“gr2” 步骤3：创建两条基准曲线：以TOP基准面为草绘平面，绘制如图所示的两条线段。 两条基准曲线 * 14-38 步骤4：以可变截面扫描方式创建实体特征：【垂直于原始轨迹】 绘制剖面（此时尺寸可为任意数值） 选取轨迹线 在【草绘】下拉菜单中选取【关系】/【增加】选项，输入如下关系式，以便能利用基准图形控制剖面的长与高： sd4=evalgraph(“gr2”,250*trajpar) sd5=evalgraph(“gr1”,200*trajpar) 再生图形后，长度和高度变为100和60，则表示关系式输入成功 原始轨迹线 x向量轨迹线 * 14-39 步骤5：修改轨迹线的长度：选取基准曲线，更改原始轨迹线的长度为500，x向量轨迹线的长度为400，再生后模型如图所示（两条轨迹线的长度不一定相等，然而所创建的特征会与最短的轨迹线相等长度） 修改前的实体特征 说明：在右图所示的模型中，原始轨迹线的长度为500，x向量轨迹线的长度为400；另一方面，基准图形“gr1”的x轴数值为0至200，而轨迹线的长度为400，因此“gr1”x轴的1个单位相当于轨迹线的2个（即400/200）长度单位，即x=0，相对于轨迹线的0，x=1相对于轨迹线的2，依此类推，x=100相对于轨迹线的200，x=200相对于轨迹线的400。同理，“gr2”x轴的1个单位相当于轨迹线的400/250个长度单位，即x=0，相对于轨迹线的0，x=1相对于轨迹线的400/250，依此类推，x=100相对于轨迹线的100×（400/250），x=250相对于轨迹线的400。 修改后的实体特征 * 14-40 图14-16 例14-5题图 例14-5 创建如图14-16所示的实体模型。 * 14-41 步骤1：创建两条基准曲线：以TOP基准面为草绘平面，绘制两个圆 创建步骤如下： 两条基准曲线 该实体模型可视为一条直线绕着圆弧扫描，而在扫描过程中，直线的高度呈正弦曲线的变化。 * 14-42 步骤2：以可变截面扫描方式创建曲面特征：【垂直于原始轨迹】 绘制剖面（此时尺寸可为任意数值） 选取轨迹线 在【草绘】下拉菜单中选取【关系】/【增加】选项，输入如下关系式，控制剖面直线的高度位置尺寸：sd4=sin(trajpar*360*6) (6条正弦曲线） 再生图形后，高度位置尺寸变为0，则表示关系式输入成功 原始轨迹线 x向量轨迹线 画中心线 * 14-43 步骤3：新建图层“curves”，使曲线不显示在屏幕上。 步骤4：以曲面生成薄壳实体：依次选取【创建】/【实体】/【加材料】/【使用面组】/【薄板】选项，选取曲面上任一位置，两侧生长，输入薄壳厚度为“0.25”，完成的薄壳实体如图所示 生成的曲面 曲线不显示 生成的薄壳实体特征 * 14-44 图14-17 例14-6题图 例14-6 创建如图14-17所示的实体模型。 * 14-45 步骤1：创建两条基准曲线：以TOP基准面