故障测试 课件7.ppt

电子电路系统的故障诊断与可测性设计-------集成电路测试技术 授课教师：马敏  课程安排 学时：32学时，2学时/周； 纪律：不旷课，不迟到，不早退，上课不讲话； 要求：上课认真听讲，作好笔记（例题），拷贝PPT； 思维方法：跳跃思维，反向思维； 平时成绩（作业，纪律），旷课一次扣2分：30%，期终考试70%； 教材：《集成电路测试技术基础》 参考书：陈光禹著，《数字电路测试及仪器》第三版，电子科大出版社 陈光禹 著，《可测性设计技术》，电子工业出版社 Samual c.lee,Digital circuits and logic design; R.saeks,S.R.liberty,Rational fault analysis;(列出1180篇文献） 参考书 参考书 参考书 课程内容安排 一.数字电路的测试与故障诊断 1.概述 2.组合电路测试与故障诊断 3.时序电路测试与故障诊断 4.微机系统的测试与故障诊断 5.计算机辅助测试技术 课程内容安排 二.可测性设计 1.可测性设计 2.内建自测试 三. 模拟电路的测试与故障诊断 四. 混合信号测试技术简介 第1章 数字电路测试概述 第1.1节 数字电路测试的基本概念 什么是数字电路测试； 数字电路测试的重要性及复杂性 数字电路测试的分析方法 数字电路测试的基本任务及方法 数字电路测试的可测性和完备性 第1.2节 穷举测试法--数字电路测试的简单方法 穷举测试法的基本思想及特点 伪穷举测试法的具体实施 第1.3节 故障表方法--数字电路测试的基本方法 故障表方法的基本思想 故障表方法的具体实施--固定计划法，自适应方法 第1.1节 数字电路测试的基本概念 1.1.1 数字电路测试的定义--什么是数字电路测试？ 电子系统：模拟系统--处理模拟信息； 时域测试：f(p,t) 频域测试：s(p,w) 相互转换关系---富氏变换： 1.1.1 数字电路测试的定义 数字系统--处理数字信息，即二进制信息： f(Event,Word)=f(E,W) 事件 数据字 数字信息的特征： 严格的时空观--严格的时序和严格的空间（多线）概念； 非周期性--难以观察与测试； 无规律性--难以模拟； 不稳定性--竞争与冒险，毛刺难以测试； 软件信息与硬件信息难以区分--数据流测试； 速率范围大--ps--s量级，难以存储和记忆； 因此，用常规的模拟测试技术是无法实现数字信息的测试。 1.1.1 数字电路测试的定义 数字电路测试的定义： 数字系统（电路）是处理二进制信息的系统，二进制信息常常称之为“数据”，因此，有关数字系统的信息测试和分析就称为“数字电路测试”，也称为“数字系统的故障诊断”。 本章的内容： 数字电路测试理论和方法，是全新的测试理论和方法。 1.1.2 数字电路测试的重要性和复杂性 数字系统是复杂的系统：计算机系统，自动测试系统，智能仪器等； 电子世界正在兴起一场深刻的革命，这场革命以大规模集成电路(VLSI)和微处理器标志的数字系统，使许多传统的测试理论、方法和技术正为之改观。 重要性： VLSI及数字系统生产过程的质量控制 保证数字系统高的可靠性 数字电路测试的重要性 数字电路测试重要性 数字电路故障诊断的重要性 军事装备测试的重要性 武器装备的资源保障，提高任务成功性 (可靠性、安全性) 武器装备效能倍增器，强化军事效益，提高战斗力 (性能) 提高战备完好性 (测试性、维护性、保障性) 武器装备的重要组成部分 武器装备的测试费用占武器装备成本的50%到70%，随着武器装备复杂性的增加（数字化 DSP，小型化 ，高集成度、模块化)而迅速增长，国外预计到2014年超过 自动测试技术 自动测试技术 AIWS 空中拦截武器系统 AN/APG-73 (F/A-18) 跟踪雷达 AMRAAM 精密中程防空导弹 AN/APN-217(V)5 多谱勒雷达 AN/AAS-33A 转塔式红外探测系统 AN/APS-137 机载预警雷达 AN/ALE-47 AN/ARC-210 I/D AN/ALQ-126B RF SRAS EA-6B AIP “徘徊者”电子战机 AN/ALQ-156 EA-6B/ALQ-149 AN/ALQ-165 (ASPJ) EA-6B RPG AN/ALR-67 对抗及告警控制系统 F-14D CRE WRAs “雄猫”战斗机 GPWS/HELO SH-60F/ALFS GPWS/Transport JTIDS 战术数据系统 Mini-DAMA ALE