9列在多叶准直器日常质量保证中的应用.pdf

±堡墼堑堕堂皇堕塑垄查!堂生!旦蔓!!堂笙!塑鱼坐』幽堕丛鲤堕!生囹!堂!!生：丝!塑!：； ·217· ·辐射剂量· 二维半导体探测器阵列在多叶准直器日常 质量保证中的应用 马攀戴建荣SHIJie 【摘要】 目的 建立利用半导体探测器阵列检测多叶准直器(MLc)叶片定位误差的方法，用于 MLC的日常质量保证。方法在MapCheck半导体探测器阵列上，相邻行探测器是错开半个探测器 间距分布的。针对这种分布特点，设计了台阶式叶片位置模式，代替胶片测量常用的篱笆式(picket fence)叶片位置模式，作为叶片位置参考模式。在参考模式的基础上，人为引入不同大小的叶片位置 误差，得到一组新的叶片位置模式——叶片位置校准模式。依次照射参考模式和校准模式，得到每 一个探测器测量剂量与叶片位置误差的关系曲线。该曲线作为测量叶片位置误差的校准曲线。在 进行MLC日常质量保证时，只需定期照射叶片位置参考模式，就可得到定量的叶片位置误差。结果 新方法在一个配置加对MLC的加速器上进行了测试(ElektaPrecise)。篱笆式叶片位置模式一次检 测160个叶片位置，而台阶式叶片位置模式一次检测240个位置，检测效率提高50％；对于同样的 lmm叶片误差，前后两种模式的剂量变化分别是17％和25％，因此测量灵敏度提高8％。结论建 立了一种新的定量的MLC日常QA方法。通过重新设计叶片位置模式，新方法提高了实施效率和测 量灵敏度。 【关键词】半导体探测器阵列； 多叶准直器； 位置误差； 质量保证 MLCroutinewitha2Ddiode MA QA Pan’，DM array Jian-rong．Sill№．’Dc,,mm删巧Physics， Wuhan 430072，China University，Wuhan author：DAI Radiation Corres妒ading Jian-rong，Departmentof Oncolngy，CancerHospital，ChineseAcademyof Medical UnionMedical Sciences，Peking College，Beiiing100021，China，Email：da／一fiarwong@163．com To leaf forMuhileaf assurance 【Abstract】 patterns Collimator(MLC)routinequality Objectivedesign 2Ddiode a2Ddiode tothedetectordistributioncharacteristicofthe (QA)with array．MethodsAccording and on eachdiode MI．E QA， array ba8iIlgthe“picketfence”pattern。designthe“stepwise”pattern．Forinvolving acalibrationcurveofrelative veIBufileaf errorw幽measured asetof output positioning tIIrouglldeliveringpatterns withdifferent introduced errors．Whenthis w硇dehvered．the intentionally posit