arl3460直读光谱描迹的具体步骤.docVIP

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直读光谱的描迹直读光谱仪是非常稳定的仪器迹线漂移很慢很慢但受环境因素的影响如温度的急剧变化振动等等会发生微小的变化因此需要用户根据自己的情况定期进行描迹检查元素的描迹检查元素出射狭缝与入射狭缝的相对机械位置入射狭缝是用户仪器上所设置的全部元素通道所共用的入射狭缝的位置由扫描刻度盘的刻度来给出描迹检查所用样品要求被检查的元素含量适中狭缝定位有直接定位和积分定位两种方法一般情况下选用积分定位在主界面下点击如图所示进入积分定位的菜单如图所示从图中的栏中用鼠标先选一种分析程序如栏中是可供选择的元素通道通

ARL3460直读光谱的描迹ARL 直读光谱仪是非常稳定的仪器,迹线漂移很慢很慢,但受环境因素的影响,如温度的急剧变化,振动等等,会发生微小的变化。因此需要用户根据自己的情况定期进行描迹检查。元素的描迹检查元素出射狭缝与入射狭缝的相对机械位置,入射狭缝是用户仪器上所设置的全部元素(通道)所共用的。入射狭缝的位置由扫描刻度盘的刻度来给出。描迹检查所用样品要求被检查的元素含量适中。狭缝定位有直接定位(Direct Profile)和积分定位(Integrated profile)两种方法,一般情况下选用积分定位(Integrated profile)。在WinOE 主界面下点击Initialisa

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