同步辐射X 射线荧光分析的晶态物质衍射影响 - 微构分析测试中心.PDF

第 卷 第 期 年 月 44 8 1999 4 简报 同步辐射 X 射线荧光分析的晶态物质衍射影响 ——— 以晶质与非晶质单斜辉石为例 郑海飞① 黄宇营② 马配学① 巨 新② （ 北京大学地质系，北京 100871； 中国科学院高能物理研究所，北京 100039 ） ① ② 摘要 同步辐射 X 射线（白光）微束激发晶态物质和非晶态物质时，其中晶态物质的衍射线将 严重影响元素的 X 射线能谱分析. 其最有效的解决办法是采用同步辐射单色光激发样品，或 在样品与 （ ）探测器之间加入一准直器以消除衍射作用的影响 Si Li . 关键词 同步辐射 X 射线荧光分析 衍射 同步辐射 X 射线具有高亮度、高极化和高准直的性质. 与传统的 X 射线荧光分析相比， 用同步辐射 X 射线作为激发源的 X 射线荧光分析方法具有更高的灵敏度和 良好的空间分辨 ［ ］ 率，因此在各学科领域的研究中具有广泛的应用前景 1 ～ 5 . 作者在用同步辐射 X 射线荧光方法分析高温高压实验产物中的矿物与其熔体（玻璃）中 的元素含量时，观察到矿物与玻璃的 X 射线荧光强度有一定差异，研究表明这是矿物晶体的 衍射作用所致，因此在进行晶态物质与非晶态物质的成分分析时必须采取措施加以解决. 1 实验 1 . 1 实验设备和条件 BEPC 储存环 中的电子能量为 2 . 2 GeV，束流强度 50 ～ 30 mA，光源点至束线终端距离 ，束线终端至样品 入射光斑尺寸为 ，样品与入射束间夹角为 ， 43 m 400 mm . 20 m × 20 m 45º Si µ µ （ ）探测器在电子轨道平面内与样品成 ，即与入射束成 以降低散射背景 Li 45º 90º . Si （ ）探测器的能量分辨率为 （在 处）， 窗的厚度为 ，探头灵敏 Li 165 eV 5 .9 eV Be 0 .025 mm 面积的直径为 6 mm，样品距探测器窗口20 mm，样品与探测器之间未加准直器，实验测量时间 为 150 s . 1 . 2 样品 实验样品用化学成分完全相同的两种样品，其中一为晶态的单斜辉石（单晶），二为该单斜 辉石熔融形成的玻璃. 样品均磨制成光薄片置于样品台上进行测量. 2 结果及讨论 共做了 对单斜辉石与玻璃的同步辐射 射线能谱分析，其能谱图均很相似 图 是其 5 X . 1 中之一的单斜辉石和其熔融物质（玻璃）的 射线能谱图（已进行束流强度校正） 由图 可以 X . 1 看出，晶态的单斜辉石具有明显比其玻璃高的荧光谱线强度