多点测试中的开关.PDF

Number 1138 Application Note Series 多点测试中的开关 多点测试中的开关 块温度的差（图1中表示为(ΔTA）。如果这一差值不超过 ±6°C，那么监测高于300°C温度时的附加误差小于2%。很多 在测量系统设计的过程中选择合适的开关是一件极其重要但 应用对这一量级的误差是可以接受的。 有时又会被忽视的工作。实际上，开关选择的重要性不亚于系 统测试仪的选择或者测试接口的设计。 任何系统设计的目标都是要将系统测试仪的精确性和特定性 能转换到待测设备上（UUT）。仪器的这些性能指标仅仅在仪 器端口处确保有效。要想完成测试过程，可能还需要在系统测 试仪和UUT之间插入数米长的线缆、复杂的开关和特殊的测试 接口。系统设计者必须处理好布线、连接、测量技术和系统开 关等因素所造成的测量误差。增加需求以满足设计者最差的测 量情形，实现测试目标变得极其困难。 本应用笔记介绍了在常见的系统测量情形下如何使用当前现 有的开关设备——尽可能地容忍或者补偿各种误差来源。本文 不再详细介绍有关系统温度测量、电阻测量、高电压开关和矩 阵开关的内容。 系统温度测量 图1：没有补偿的直接多点温度测量方法 我们通常需要测量测试系统、环境舱、自动化工艺等中的温 2.没有恒温块的补偿方法。当需要更高的测量精度时，必须 度。所检测的基本属性是电器特性，它们的变化与温度的关系 在热电偶参考端检测温度。这可以通过在终端安装一个热敏电 是可预测的。电阻温度探测器（RTD）、热敏电阻和热电偶都 阻、RTD或者半导体温度传感器来实现。这些参考传感器与热 是适合于这类应用的常用探测器。有关这类探测器的详细介绍 电偶不同，产生的输出就是我们所关心点上的温度，而不是两 请查阅#401号应用笔记。 点之间的相对温度差。 测量系统中最常用的温度探测器是热电偶，它持久耐用， 这种方法具有更高的精度，因为它在热电偶终端附近有一个 价格便宜，能够涵盖从约-50℃到1800℃的较宽温度范围。但 温度探测器。这个温度探测器考虑到了热电偶参考端上工作 是，在使用热电偶时，测试工程师面临的唯一问题就是如何处 环境的起伏波动。然而，这种方法也有一点主要的不确定性， 理微伏级的信号。即使在比较简单的台式测试系统中，要想控 即温度传感器和热电偶终端之间的温差（如图2中ΔTB）。这 制这些量级的信号以获得可重复的、精确的测量结果也是很难 一温差也是不受控的，并且可能随着对流和热辐射源位置的不 的。 同，以及电通路中热传导的影响而发生很大变化。 由于所涉及材料的热电特性不同，每个连接和终端都存在热 电偏移电压。每个连接和开关触点基本上都是一个热电偶。 热电偏移电压能够造成几度的测量误差；我们必须采取措施识 别、控制和尽量减少这些误差源。 此外，热电偶产生的EMF与端到端的温度差成正比。因此， 除非已知冷接点上的温度，否则我们无法测出温度。因此，系 统必须提供参考温度。 这个参考温度必须保持在或者接近实际的热电偶冷接点温 度。这通常是通过将终端接头和参考器件安装在一个热传导块 中来实现的。 系统解决方案 至少有三种使用热电偶进行多点温度测量的方法。所选择的 方法取决于“可接受的测量不确定性”。 1.没有补偿的直接方法。图1所示的方法比较简单，能够在 监测高温（通常高于300℃）时提供足够的精度。控制器的计 图2：没有恒温块的多点温度测量方法 算功能用于将探测器的电压输出转换为温度值，并在变换方程 中插入一个恒定的参考温度。这种假定的参考温度在控制良好 的工作环境下可能是有效的。 这种方法的误差在于假定的热电偶参考温度与实际的终端 注意对于这种方法，DMM必须切换到电阻模式以监测参考传感