考虑制程变异下应用 bootstrap 信赖区间模拟空间相关性.pdf

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2017-08-21 发布于天津
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考虑制程变异下应用 bootstrap 信赖区间模拟空间相关性

國立交通大學電機學院 IC設計產業研發碩士班碩士論文考慮製程變異下應用 Bootstrap信賴區間模擬空間相關性 BOOTSTRAP CONFIDENCE INTERVALS AS AN APPROACH to MODEL WITHIN-DIE SPATIAL CORRELATION UNDER PROCESS VARIATIONS 研究生：蘇炳熏指導教授：李育民教授中華民國九十八年一月考慮製程變異下應用 Bootstrap信賴區間模擬空間相關性 BOOTSTRAP CONFIDENCE INTERVALS AS AN APPROACH to MODEL WITHIN-DIE SPATIAL CORRELATION UNDER PROCESS VARIATIONS 研究生：蘇炳熏 Student ：Bing-Hsing Su 指導教授：李育民 Advisor ：Yu-Min Lee 國立交通大學電機學院 IC設計產業研發碩士班碩士論文 A Thesis Submitted to College of Electrical and Computer Engineering National Chiao Tung University in partial Fulfillment of the Requirements for the Degree of Master in Industrial Technology R D Master Program on IC Design January 2009 Hsinchu, Taiwan, Republic of China 中華民國九十八年一月考慮製程變異下應用 Bootstrap信賴區間模擬空間相關性學生：蘇炳熏指導教授：李育民國立交通大學電機學院產業研發碩士班摘要隨著製程的技術進步及系統單晶片的到來，深次微米中的時序問題已越顯重要。傳統以 corner value 為基礎的時序分析將會導致預測的時序被過分低估。統計型靜態時序分析 ( Statistical Static Timing Analysis - SSTA) 就是利用統計的方式去描述這些製程偏差 , 把他們視為一些統計的隨機變數, 然後利用他們去預測時序並且得到更準確的結果。SSTA使晶片設計者能得以將時間餘裕(timing margin)及良率 (yield)做最佳化以提升晶片效能和可靠度。不同