物质成分光谱分析第六章 X-射线荧光光谱分析.pptVIP

物质成分的光谱分析 第六章 X-射线荧光光谱分析 ; ; 1929 年施赖伯(Schreiber) 首次应用X射线荧光光谱分析 1948 年制造了第一台用X光管的商品型X射线荧光谱仪 目前X射线荧光光谱分析已经成为高效率的现代化元素分析技术；被定为国标标准(ISO)分析方法之一 ;*;*;*;*;*;*;*;*;*;*;;;;; 强度：在物理学中规定，以单位时间内通过单位面积 (垂直于射线方向) 的光子总能量表示光的强度，用符号I表示。 在X射线光谱分析中X射线的强度定义为单位时间内探测器接收到的光子数，单位用 cps(Count Particle／Second)或Kcps表示。 ; 2)X射线光谱： 所有的光按一定的规律(波长或能量)排列成谱，称为光谱。 X射线光谱分为连续光谱和特征光谱两类。 ①连续光谱 连续X射线光谱是由某一最短波长(短波限)开始的波长具有连续分布的X射线谱组成。 ; 产生的机理： 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受到靶原子核的库仑力作用，突然改变速度而产生的电磁辐射。由于在撞击时，有的带电粒子在一次碰撞中损失全部能量，有的带电粒子同