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- 2017-12-02 发布于湖北
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1.3 晶体生长、晶圆片制造与硅晶圆片的基本特性 * Si---IC工业基础材料的最佳选择 储量丰富 Si-sio2界面特性 硅基材料 单晶硅 多晶硅 非晶硅 * 1.晶体生长 ⑴原料提纯 硅提纯并转化成晶体形状: ⑵硅单晶生长使用的方法: 直拉(CZ)和区熔(FZ)技术。 * CZ工艺(普遍采用) * 现代CZ单晶生长设备图 * 2.对圆片材料的的要求 导电类型:N型和P型都易制备; 电阻率:10-5~108Ω.cm,均匀性好(纵向、横向、微区), 可靠性高; 寿命(少数载流子):晶体管---长寿命 开关器件---短寿命 晶格完整性:无位错或低位错(1000个/cm3)。 纯度:电子级硅(EGS,electronic-grade-silicon)---1/109杂质 晶向:MOS器件---(100) 双极器件---(111) 直径、平整度、主次定位面、禁带宽度、迁移率、晶格匹配 * 3.圆片的准备和规格 ⑴最终成品有几乎完美的平面,正面要抛光到镜面且没有任何锯片和其它操作带来的机械缺陷。 ⑵现代IC制造厂圆片的直径大约是150-300mm(6-12in) ⑶圆片具备的参数规范: 电参数---N型或P型、电阻率、掺杂剂
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