一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法 Practical New Method of CMOS Chip Open-Circuit and Short-Circuit Testing.pdfVIP

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2017-08-02 发布于上海
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一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法 Practical New Method of CMOS Chip Open-Circuit and Short-Circuit Testing.pdf

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一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法 Practical New Method of CMOS Chip Open-Circuit and Short-Circuit Testing

电工电气 (2009 No.9) 一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法杨卫 (苏州大学电子信息学院，江苏苏州 215021) 摘要： IDDQ 测试是一种新的集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值，它可以有效地检测出早期失效器件。介绍了一种新型的 IDDQ 开路和短路测试方法；利用模拟开关和简单的电流源并利用带 A/D 模块的 MCU 组成一个开路和短路测试电路。该方法既节省成本，又能实现简单的智能学习。关键词： IDDQ测试；微控制器；电流源；模拟开关；CMOS芯片中图分类号：TM930.12 文献标识码：A 文章编号：1007-3175(2009)09-0050-04 Practical New Method of CMOS Chip Open-Circuit and Short-Circuit Testing YANG Wei School of Electronic Information, Soochow University, Suzhou 2 502, China （） Abstract: IDDQ test is a new type of IC testing method and technology, which recently has drawn enormous attention from people in the industry at home and abroad. IDDQ test is intended to test the parameters of the static current in the power supply under the logic condition of multiple inputs. Meanwhile, it can effectively identify the inactive parts at early stage. This article introduced a new kind of IDDQ continuity test, using analog switches, simple current supplies and a microcontroller unit (MCU) with A/D to make up an open circuit and short circuit. This new method can not only help save costs, but also be used for intelligent learning. Key words: IDDQ test; microcontroller unit; current supply; analog switch; CMOS 1 一般开路和短路测试方法 D 1 PIN D IDDQ是指当CMOS集成电路中的所有管子都处于