蒸气发生.ppt

DDTC和硫脲等含硫增敏剂可以和Cd生成水溶性络合物，提高Cd蒸气态物质的发生效率，Co离子的存在可对Cd的蒸气发生产生正干扰，起到增敏作用。 Cd的蒸气发生过程中，金属元素造成的液相干扰问题较为严重。Co、Ni等离子发生正干扰，Cu、Pb等离子则是发生负干扰。 因此，在针对基体较为复杂的样品时，尤其是存在大量金属离子时，不建议使用Cd的蒸气发生进样技术。目前，应用最多的增敏剂为2％硫脲-1μg/mLCo2+混合体系。 Cd Cd的原子荧光检测模式可以选择冷原子法也可以选择火焰法，但是冷原子法的灵敏度明显低于火焰法，因此一般均采用火焰法进行测量。Cd的共振谱线为228.8nm，处于目前蒸气发生－原子荧光光谱仪普遍采用的日盲光电倍增管响应波长范围(160～320nm)较为灵敏的波段，具有良好的灵敏度响应。 Cd VG—AFS法在食品中镉的测定，无论采用干灰法或湿法消解，铜离子的干扰比较严重，对Cd的信号有较强的抑制作用，因为食品中铜是经常存在的离子，故除去Cu的干扰是必要的。采用二硫腙—四氯化碳(0.5g/L)，在0.2mol/L的硫酸酸度下可以消除500倍Cu的干扰，且萃取后可以不用分离即可进行镉的测定。 Cd 元素个论-锗(Ge) 有机锗没有蒸气发生能力，因此在消解过程中需确保有机锗已经被转化为无机锗Ge(IV)。 一般采用的消解体系有H3PO4-HNO3-HClO4-HF、HNO3-HF-H2SO4、HNO3-H2SO4-H2O2等。在样品消解过程中，应严格控制低温消解，待溶液冒烟出现时取下，否则对某些食品（尤其是保健食品）中的有机锗可能消解不完全。 GeCl4具有较强的挥发性，因此在样品前处理过程中需要避免引入氯离子，防止Ge损失。 Ge 10％～30％的磷酸介质在消解液中需要保证，以获得较高的蒸气发生效率。 邱德仁等提出了氢化物发生的碱性模式，证实所有氢化物发生元素在碱性介质中均可发生氢化物。在含锗的碱性溶液中加入硼氢化钾的溶液与酸反应生成氢化物，可有效地消除Cu和Ni等元素的干扰。 Ge Ge的蒸气发生所采用的酸较为特殊，10％～30％的磷酸介质是使用较多的条件，HCl、HNO3和H2SO4均被用于Ge的蒸气发生，但由于蒸气发生效率较低，不建议使用。 KBH4浓度为10g/L～30g/L，碱溶液的浓度在2g/L～10g/L之间。 贵金属元素、过渡金属元素以及其它蒸气发生元素的干扰问题可以通过共沉淀、萃取以及添加掩蔽剂的方式去除。 当环境温度较高时，会导致锗的测量结果的不稳定，因此需要安装空调对仪器所处的实验室进行恒温控制。 Ge 元素个论-汞(Hg) 采用冷蒸气原子荧光光谱法（CV-AFS）测汞分析技术中具有很高灵敏度，也是目前原子光谱分析中最为灵敏的方法之一。该法在水环境、食品、中草药、生物及垃圾渗滤液样品方面应用较为广泛。 针对不同的仪器，汞的前处理方法较多，某些仪器采用热解法或燃烧法进样，基本上不需要样品前处理，就可以直接进样。 Hg 汞具有较强的化学迁移性，因此在样品前处理过程中，极易发生损失。 交叉污染问题也要格外关注。 汞在干灰化法时，会完全损失，即使加入灰化助剂防止挥发的效果也不明显。 密闭条件下的湿法消解和回流消解是汞的前处理应用最多的方法。废水及有机质含量较高的水样多采用KMnO4-K2S2O8法进行消解，相对洁净的水样则采用KBrO3-KBr法消解。有机质含量较高样品如食品等采用HNO3-H2O2消解液，采用高压消解或微波消解完成。地球化学类样品和冶金类一般采用HNO3-HCl混酸作为消解液。 Hg 消解液中残留的氮氧化物会对测量结果产生较为严重的正干扰，使得测量结果偏高，且重现性较差。因此，在前处理过程中需要采用水回流加热或高倍稀释的方法去除干扰。 玻璃器皿对汞有吸附作用，使用前需要用稀硝酸浸泡。 汞是比较容易发生污染的元素，因此要关注试剂空白、水和器皿是否能够满足要求。 消解液的酸性介质一般为HCl、HNO3或HNO3-HCl混酸，对酸度要求较宽。 Hg Hg在11种蒸气发生元素中最容易被还原成原子蒸气。 一般常用的还原剂为SnCl2和KBH4，前者在使用后会对原子荧光后续测量Sn时产生影响，且配制相对复杂，还需要做除汞处理；后者配制简单，目前已经被广泛使用。 Hg Hg的蒸气发生条件有冷原子法和火焰法两种。 冷原子法是目前广泛采用的蒸气发生方法，不宜采用过高浓度的KBH4，它将反应产生大量氢气稀释了被测的汞蒸气，致使降低分析灵敏度。一般KBH4浓度可降低至0.1～1g/L范围内，具有足够的反应能力。极低的KBH4浓度以利于抑制氢化物元素和过渡金属离子的产生，可消除对汞检测的干扰。 火焰法则是需要不小于1％的KBH4作为还原剂，产生的氢气和水汽较大，液