文物真伪鉴定.PPT

二、电子显微镜 扫描电子显微镜（SEM） 以较高的分辨率（3.5nm）和很大的景深清晰地显示粗糙样品的表面形貌，并以多种方式给出微区成份等信息，用来观察断口表面微观形态，分析研究断裂的原因和机理，以及其它方面的应用。 主要研究古陶瓷的表面形状、晶粒大小及相互结合的状况以及内气孔的形状分布，玻璃化程度并进而推断烧结温度；研究金属文物的微观结构和金属文物腐蚀的原因；还可以为古代植物、石器工具、兽骨头和牙齿、古代衣物提供详细的立体图像等等。 透射电子显微镜（TEM） 是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜，是材料科学研究的重要手段，能提供极微细材料的组织结构、晶体结构和化学成分等方面的信息。透射电镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备更薄的超薄切片（通常为50～100nm）。其制备过程与石蜡切片相似，但要求极严格。。 透射电子显微镜在文物分析中的应用主要是在文物材质分析以及保护材料与文物间的反应考察等。 扫描透射电子显微镜 扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样，STEM用电子束在样品的表面扫描，但又象TEM，通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于