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实验七、矩阵式键盘输入实验
一、实验目的
1.学习矩列式键盘工作原理
2.学习矩列式接口的电路设计和程序设计
二、实验设备
1.仿真器
2.单片机最小系统实验教学模块
3.矩阵式键盘实验模块
4.动态扫描数码管显示模块
三、实验要求
要求实现:在矩阵式键盘中的某个键被按下时,8位LED动态显示器上最低位显示该键对应的字符,以前的字符向高位推进1位(即类似于计算器)。
注意,在进行该项实验之前,请先进行实验二“数码管动态扫描显示实验”。
四、实验原理
矩阵式由行线和列线组成,按键位于行、列的交叉点上。如图所示,一个4*4的行、列结构可以构成一个由16个按键的键盘。很明显,在按键数量较多的场合,矩阵式键盘与独立式键盘相比,要节省很多的I/0口。
图7-1 矩阵式键盘结构
4.1 矩阵式键盘工作原理
按键设置在行、列交节点上,行、列分别连接到按键开关的两端。行线通过上拉电阻接到VCC上。平时无按键动作时,行线处于低电平状态,而当有按键按下时,列线电平为低,行线电平为高。这一点是识别矩阵式键盘是否被按下的关键所在。因此,各按键彼此将相互发生影响,所以必须将行、列线信号配合起来并作适当的处理,才能确定闭合键的位置。
4.2 按键识别方法
下面以图7-2中4号键被按下为例,来说明此键是如何被识别出来的。
前已述及,键被按下时,与此键相连的行线电平将由与此键相连的列线电平决定,而行线电平在无键按下时处于高电平状态。如果让所有列线处于高电平那么键按下与否不会引起行线电平的状态变化,始终是低电平,所以,让所有列线处于高电平是没法识别出按键的。现在反过来,让所有列线处于低电平,很明显,按下的键所在行电平将也被置为高电平,根据此变化,便能判定该行一定有键被按下。但我们还不能确定是这一行的哪个键被按下。所以,为了进一步判定到底是哪—列的键被按下,可在某一时刻只让一条列线处于低电平,而其余所有列线处于高电平。当第1列为低电平,其余各列为高电平时,因为是键4被按下,所以第1行仍处于低电平状态;当第2列为低电平,其余各列为高电平时,同样我们会发现第1行仍处于低电平状态,直到让第4列为低电平,其余各列为高电平时,因为是3号键被按下,所以第1行的高电平转换到第4列所处的高电平,据此,我们确信第1行第4列交叉点处的按键即3号键被按下。
根据上面的分析,很容易得出矩阵键盘按键的识别方法,此方法分两步进行。第一步,识别键盘有无健被按下;第二步,如果有键被按下,识别出具体的按键。分述如下:
识别键盘有无键被按下的方法是:让所有列线均为低电平,检查各行线电平是否有高电平,如果有,则说明有键被按下,如果没有,则说明无键被按下(实际编程时应考虑按键抖动的影响,通常总是采用软件延时的方法进行消抖处理)。
识别具体按键的方法是(亦称之为扫描法):逐列置零电平,并检查各行线电平的变化,如果某行电平由低电平变为高电平,则可确定此行此列交叉点处按键被按下。
图7-2 实验硬件连线图
五、实验步骤
1、按照图7-2的电路图,用导线将矩阵式键盘、数码管动态扫描显示模块和单片机的最小系统实验模块连接正确。
2、示例程序如下:
Keyvalue EQU 40H ;读到键盘的值暂放的地址
Firstptr EQU 30h ;显示缓冲区地址低位
Lowptr EQU 36H
Highptr EQU 37H
;****************
;主程序
;****************
ORG 0000H
WAIT: LJMP MAIN
NOP
NOP
LJMP WAIT
;先清空30-3f之间的16个暂存区
MAIN: MOV R1,#Firstptr
MOV R0,#08H
LOOP: MOV A,#10H ;指向表格的指针,现在为0FFH即无显示
MOV @R1,A
INC R1
DJNZ R0,LOOP
MOV P2,#00H ;关闭所有的显示
LOOP1: MOV R1,#04H ;列数为4。
MOV R2,#0EFH ;准备扫描,P1口高4位为列线
KEY: MOV P1,#0FFH ;读出口状态之前,先向P1口写1
MOV A,R2 ;先扫描第一列
MOV R3,A ;列信息
MOV P1,A ;低电平送P1口
MOV A,P1 ;扫描结果送回ACC
MOV Keyvalue,A ;存储扫描结果供去抖后判断
ORL A,#0F0H ;屏蔽高四位
CJNE A,#0F0H,KEY_ON ;有键按下则转到KEY_ON
MOV A,R2 ;该行没有键按下,继续扫描下一列
RL A
MOV R2,A
LCA
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