FSS设计中栅瓣现象的研究 Study on the sidelopes for FSS design.pdfVIP

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2017-08-03 发布于上海
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FSS设计中栅瓣现象的研究 Study on the sidelopes for FSS design.pdf

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研惫辜煎许电子测量技术第33卷第1期 ELECTR()N1CMEASUREMENTTECHNOLOGY 2010年1月 FSS设计中栅瓣现象的研究王婕邓晖董金明 (北京航空航天大学电子信息工程学院北京100191) 摘要：栅瓣现象是影响频率选择表面(FSS)性能的重要因素，良好的FSS设计需要在工作频段内尽量避开或削弱栅瓣效应产生的影响。首先从电磁波传播的角度阐述了栅瓣现象产生的原因和条件。然后，依据周期结构的Floquet 定理，总结了栅瓣与高阶Floquet可传播模式之间的联系，并且给出了Floquet模式的物理意义。同时针对厚壁波导型R竭结构进行仿真分析，研究其阵列周期及单元排布方式等因素对栅瓣的影响，并对大角度入射条件下的FSS设计提出了有价值的建议。关键词：频率选择表面(FSS)；Floquet定理；Floquet模式；栅瓣中图分类号：TN973．3文献标识码：A onthe forFSS Study sidelopes design Hui WangJieDeng DongJinming (SchoolofElectronicInformation 100191) Engineering，BeiHangUniversity，Beijing of isan factorinthe of ordertO aFSS Abstract：The importantaffecting RSIn phenomenonsidelopes design design withexcellent shouldbeavoidedorweakenedasCOuldas the performance。thesidelopes possible．Thepaperexplains causesconditionsof fromthe of connections and wave sidelopes perspectiveelectromagneticpropagation．Then，the between and modesaresummarizedbasedonthe theorem．Thethick-screen sidelopeshigh-levelFloquet Floquet FSSunderirradiationwitha incidentaresimulatedinc88e8ofdifferent wav．eguide-type large angle arraytype，tO in are tOthe ofFSSusedincaseof the of situation，and mode analyzeimpactsidelopesseparate suggestions design irradiationwitha incident large angle．