第四节 多晶体分析方法.ppt

第四章 多晶体分析方法 §4-1 引言 §4-2 粉末照相法（重点是衍射花样的指数化） §4-3 X射线衍射仪 §4-4 衍射仪的测量方法与实验参数 §4-5 点阵常数的精确测定（自学） 粉末衍射法中采用耙材发射的单色K系X射线作为入射线，“粉末”可以为真正的粉末试样，也可以是多晶体试样。 粉末法可分为照相法和衍射仪法。 照相法：德拜－谢乐法(Debye-scherrer method)； 聚焦照相法(focusing method)； 针孔法(pinhole method). 所有的衍射法其衍射束均在以入射束为轴的反射圆锥上。各个圆锥均是由特定的晶面反射引起的，锥顶角为该晶面布拉格角的4倍(4θ）。 §4-2 粉末照相法 一、德拜法及德拜相机 相机的直径有两种： 直径为57.3mm时，照片上每一毫米对应角度为2o 直径为114.6mm时，照片上每一毫米对应角度为1o 二、实验方法 试样的制备 粉末颗粒大小在1×10-5～1 ×10-3cm。颗粒太大，衍射线条不连续，颗粒太小，衍射线条变宽。两相以上的合金粉末须反复过筛粉碎且混合均匀。机械粉碎的样品须充分退火消除内应力；电解萃取获得的粉末要经过清洗和真空干燥。 将粉末处理好之后，制成直径为0.5mm，长10mm左右的圆柱试样。 制备圆柱试样的方法： 2. 底片的安装 3. 摄照规程的选择 阳极靶：Z靶≤Z试样+1 （可减少非相干散射背底） 滤波片： 当Z靶＜40时，则Z滤＝Z靶-1 当Z靶≥40时，则Z滤＝Z靶-2 管压：为阳极元素K系临界激发电压的3～5倍 工作管流：≤W额定/U管 曝光时间：通过实验确定。 4. 衍射花样的测量和计算 5. 衍射花样的指数化 立方晶系的干涉指数（hkl）的N 单独从表4-1中前6条衍射线是不能区分简单立方和体心立方的花样，因此需要更多的衍射线以及它们的相对强度来比较。 若K系特征X射线未经过滤，则每一族反射面将产生Kα、Kβ两条衍射线。 识别Kα、Kβ两条衍射线的依据为： 1）根据布拉格方程，sinθ与波长成正比，由于Kβ的波长比Kα短，θβ小于θα并且Kα和Kβ之间存在如下的固定关系： 2）入射线中Kα的强度比Kβ大3～5倍，因此，在衍射花样中的Kα线的强度也比Kβ大得多。这一点是鉴别Kα和Kβ的重要参考依据。 三、相机的分辨本领 影响分辨本领的因素： 1）相机半径R越大，分辨本领越高。但是单位衍射圆弧上的强度降低，曝光时间延长，由空气散射引起的背影增加。 2）θ角越大，分辨本领越高。高角度线条的Kα1和Kα2双线可明显分开。 3）X射线的波长越长，分辨本领越高。 4）面间距越大，分辨本领越低。 §4-3 X射线衍射仪 X射线衍射仪是按着晶体对X射线衍射的几何原理设计制造的衍射实验仪器。 1912年布拉格(W.H.Bragg)最先使用电离室探测X射线信息的装置，即最原始的X射线衍射仪。 1943年弗里德曼(H.Fridman)设计出近代X射线衍射仪。 50年代X射线衍射仪得到了普及应用。 随着科学技术的发展，衍射仪向高稳定、高分辨、多功能、全自动的联合组机方向发展。 德拜相机→衍射仪器 须解决几个技术问题： 1) X射线接收装置——计数管； 2）衍射强度必须加大，为此可使用平板试样； 3）相同的(hkl)晶面是全方位散射的，所以要聚焦; 4）计数管的移动要满足布拉格条件。 这些问题的解决关键是由几个机构来实现： 1）X射线测角仪——解决聚焦和测量角度的问题； 2）辐射探测仪——解决记录和分析衍射线能量问题。 1.X射线发生器； 2.衍射测角仪； 3.辐射探测器； 4.测量电路； 5.控制操作和运行软件的电子计算机系统。 1.测角仪的构造 2. 测角仪的衍射几何 3.测角仪的光学布置 二、X射线探测器的工作原理 2.闪烁计数器 4.三种计数器的脉冲分布 三、X射线测量中的主要电路 1.定标器及计数统计 §4-4 衍射仪的测量方法与实验参数 2.阶梯扫描法 二、实验参数的选择 1. 狭缝光阑的选择 2. 时间常数的选择 3.扫描速度的选择 结论： 1）为了提高分辨本领必须选用低速扫描和较小的接收狭缝； 2）要想使强度测量有最大的精确度，就应当选用低速扫描和中等接收狭缝。 不同目的的X射线衍射实验条件请参照P70上的表4-3。 §4-5 点阵常数的精确测定 二、德拜-谢乐法中的误差的来源 相机半径误