温度和光照传感器测试程序设计说明.docxVIP

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“温度和光照传感器测试”案例程序设计说明程序设计流程图相关寄存器设置1) P0(8位)和P2.3需要设置成推挽输出,以驱动电路正常发光。按键作为输入,不需推挽,涉及寄存器及配置值如下:P0M1=0x00;P0M0=0xff;P2M1=0x00;P2M0=0x08;2)采用定时器1,在定时器中断中进行AD的初始化,涉及寄存器(含可位寻址)及配置如下:TMOD=0x10;IE=0xa8;TH1=(65535-40000)/256;TL1=(65535-40000)%256;TR1=1;//启动定时器3)对于温度通过AD采集,涉及寄存器及配置如下:P1ASF=0xff;ADC_RES=0;ADC_RESL=0;//AD转换结果寄存器清0ADC_CONTR=0X8B;/后三位决定P1^3作为A/D输入来用;ADC_START(右4位)为1,开始转换;最高位ADC_Power=1,打开A/D转换器电源CLK_DIV=0X20;4)对于光照通过AD采集,涉及寄存器及配置如下:P1ASF=0xff;ADC_RES=0;ADC_RESL=0;//AD转换结果寄存器清0ADC_CONTR=0X8C;/后三位决定P1^4作为A/D输入来用;ADC_START(右4位)为1,开始转换;最高位ADC_Power=1,打开A/D转换器电源。CLK_DIV=0X20;程序设计框架void main()调用T_L()。void T_L()(1)设置P0为推挽模式,设置P2^3为推挽模式,其它为准双向口模式(2)选通数码管sbit SEL3=P2^3;SEL3=0;(3)开定时器中断和AD中断(4)设定时器1初值并开启定时器1中断(5)无条件循环调用SEG_Display()。void SEG_Display()如果摄氏温度值低于0,则将0号数码管用于显示“-”号;否则显示0;1和2号数码管分别显示摄氏温度的十位和个位;5、6、7号数码管分别用于显示光信息。void Timer1_Routine() interrupt 3定时器1中断处理程序:判断当前flag标志,如果是1,则调用InitADC_light()方法初始化光感相应寄存器;否则调用InitADC_temp()方法初始化温度获取相应寄存器。对flag标志取反。开总中断,开AD中断,使能定时器1中断;启动定时器1工作。void weixuan(char i)将数码管i信息对应到位选引脚SEL0、SEL1、SEL2上。void Delay(int n)延时void InitADC_light()初始化光照AD转换结果寄存器及控制寄存器void InitADC_temp()初始化温度AD转换结果寄存器及控制寄存器void adc_isr() interrupt 5 using 1AD中断处理程序:每中断AD一次,计数器time加1;屏蔽所有中断;如果中断次数达到2000次,则如果flag为1,则求温度AD平均值,并从tempdata数组中获取相应AD值对应的摄氏温度值,AD中断重新计数,调用date_processtemp()方法完成数码管左边三个温度值显示。如果flag为-1,则求光AD平均值,AD中断重新计数,调用date_processlight()方法用数码管右侧三个显示光信息。如果flag为1,则将存储了温度AD值的ADC_RES和ADC_RESL寄存器数值经过处理后累加,温度中断次数加1;如果flag为-1,则将存储了光AD值的ADC_RES和ADC_RESL寄存器数值累加,光中断次数加1。标志本次数模转换结束,并重新开放AD中断和定时中断。ADC_CONTR=~0X10; //ADC_FLAG=0,数模转换结束标志被程序清为0ADC_CONTR|=0X08; //ADC_START=1,模数转换启动,结束后自动为0void date_processtemp()将十进制温度信息分别取出其百位、十位与个位信息。void date_processlight()将十进制光信息分别取出其百位、十位与个位信息。相关寄存器知识

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