劳厄照相法核科学与技术系徐嘉文12300200018引言与试验目的.PPT

劳厄照相法 核科学与技术系 徐嘉文 12300200018 引言与实验目的 引言：劳厄照相法是利用连续的X射线照到固定的单晶体上，而产生衍射，再用照相底片记录衍射花样的一种方法 实验目的：利用劳厄照相法得到Nacl的劳厄相，分析晶体的结构。 实验原理 晶体衍射原理： X射线在晶体中的衍射可以看成多个晶面对于X射线的反射相干叠加。由于X射线的反射不是任意的需要满足的条件：布拉格公式 劳厄斑点的产生 正点阵：晶体中的格点 倒易点阵： 倒易点阵中的一个点（h,k,l）方向矢量垂直于同名指数的晶面，大小为1/a（相邻晶格点的距离） 满足 倒易坐标h,k,l的意义 正点阵的一个晶面组对应了倒易点阵中的一个点。 正点阵中的基矢与对应的倒易点阵中的基矢相互垂直，转换关系如图 劳厄斑点的产生 厄尔瓦德图解 厄尔瓦德图解 实验仪器 德国莱宝X光实验仪 针筒，底片，定影液 Nacl劳厄照相实验步骤 放置好Nacl晶体固定，将X光摄像底片固定在底片夹上 设置仪器参数U=35kv,I=1mA,L=15mm,t=1800s 按照设定参数进行曝光 冲洗相片（将定影液注入底片袋，使定影液充分均匀浸润底片后，用水冲洗去定影液） 实验结果 Nacl劳厄照相结果 数据处理 取劳厄圆斑的中心为原点（0，0）建立二维坐标（x,y），利用图像处理软件测量得各劳厄斑点相对于原点的位置，用坐标表示出来 图样形状 误差分析 误差主要来源为成像的误差：冲洗照片时，定影液没有均匀浸润相片，实际的冲洗环境并不是暗室造成底片上存在暗斑。使部分点遗漏或者无法准确定位 测量误差：相片中的斑点的线度，使得测定位置时发生的读数误差 分析与讨论：椭圆图样 原因：某一晶向平行的所有晶面的集合称为晶带。同一晶带的晶面族的反射线都位于以晶带轴为轴的圆锥面上，入射线也位于圆锥面上。当衍射线圆锥切割竖直放置底片时，其焦点是断续的椭圆，由椭圆的大小可以判断晶带轴与入射线的夹角。 劳厄相斑点转化为倒易空间点阵 由光路图可知,（掠射角）满足tan2θ= tanθ= 又由于X=x,Y=y,根据之上的关系推出Z= 倒易空间坐标（h,k,l） h:k:l=X:Y:Z 讨论分析 晶面的周期性 Nacl晶体的性质 由Nacl倒易点阵的对称性可以验证Nacl是立方晶体，据此改变Nacl的入射晶面，劳厄衍射图样形状不会改变。 如果Nacl衍射图样明显不对称，如果排除成像的原因，则可能是晶格缺陷之类的晶体不完整造成的。 对称性存在的本质原因 由布拉格公式，假设波长一定的情况下，衍射线的方向是晶面间距d的函数，如果将各晶系的晶面间距d代入布拉格方程 对于不同晶系的思考 正方晶系以及斜方晶系：轴长不全相等。 三轴正交。 轴长不等：在不同维度晶面间距离可能不同，使倒易点阵的点间距发生变化，致不对称。 轴向正交：满足以晶轴带为轴的圆锥切割垂直放置的底片，所以衍射图样形状不会变化。改变入射晶面，衍射图样会发生变化。 三斜晶体（轴长不相等，轴方向斜交） 三轴斜交：倒易点阵分布不对称，改变入射角度，劳厄相发生明显变化，轨迹可能不为椭圆。 处理方法：将晶体设为周期性函数，正点阵傅里叶变换得倒易点阵，倒易点阵中的点看成delta函数，周期就是晶面间距的倒数，进行逆傅里叶变换得到晶体性质。 联想到图像处理 图片由像素组成，将像素设为正点阵，转化到倒易点阵，类比模电中的频域滤波函数的处理方法。（高通，低通） 在倒易空间中加入滤波矩阵，再逆傅里叶变换会正点阵，可以起到图像处理的效果。 对于实验方法的思考 1.改变入射波长 2.转晶体 3.改变入射方向 只要使得倒易点落在 反射球上就能产生晶体衍射 参考文献 [1] Laue diagrams, LEYBOLD Physics leaflets,P7.1.2.3,Leybold Didactic GmbH [2] 厄尔瓦德图解与倒易点阵 百度文库2011 谢谢观看 * *