CMOS集成电路静态功耗电流测试的重要性研究 Importance and Methodology Study of Static Power Current Testing for CMOS ICs.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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CMOS集成电路静态功耗电流测试的重要性研究 Importance and Methodology Study of Static Power Current Testing for CMOS ICs

CMOS集成电路静态功耗电流测试的重要性研究宁永成 (中国航天科技集团公司第五研究院，北京 100029) 摘要：目前，国内生产厂和用户针对CMOS集成电路静态电流的测试。仍基于现有的标准和产品规范。但是．采用这蝗测试方法来测试合格的器件．在使用过程中却发现了某些电路静态电流超差的现象。通过比较目前国内外的标准和规范所规定的方法。分析其存在的问题。并说明了静态电流测试的重要性。通过实验进行了验证说明，并提出r解决问题的建议。关键词：互补型金属氧化物品体管；静态功耗电流；测试方法；故障中图分类号：TN407 文献标识码：A and ofStaticPower ImportanceMethodologyStudy CurrentforCMOSICs Testing NING Yong-cheng of Electronic 1 (China Technology ReliabilityCenter，Beijing00029，China) AcademySpace Components iSthefactthatbothmanufacturersanduserstestthe currentofCMOSICs Abstract：It quiescent basedonthe activestandards．Butitisfoundthatsomedevicesthathad the only currently passed testhavethe current the limits．Tllis isanalyzedthrough quiescentexceedingdesign problem the ofthetestmethods inthenationalandinternationalstandardswith comparison specified the test．A tothe is onthe of current solution importance problemproposed emphasis quiescent baseonthe demonstrationtothe experimental problem． method；fault current；test Keywords：CMOS；quiescent 1 引言此．对现有标准中有关静态功耗测试要求的有效性产生质疑。通过调研分析，找出了问题所在，提出最近．在对国内某生产厂生产的CMOS数字解决该问题的建议与方法。电路CC4060、XX2003电路进行测试时。发现个别产品的静态功耗电流(，DD0)超差，这些