Multidrop连接模式下LVDS信号质量测试 A Quality Test for LVDS Signal Working in Multidrop Mode.pdfVIP

20 2 Vol.20 No.2 第 卷 第 期 电子测量与仪器学报 JOURNAL OFELECTRONIC 56 MEASUREMENTANDINSTRUMENT 2006 4 年 月 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! multidrop LVDS 连接模 式 下 信 号质量测试 薛俊 东 梁 吴 周永刽 230026 中国科学技术大学近代物理系 合肥 BES3 LVDS LVDS SN65LVDS3l ! 摘 要 在 !子鉴别器前端 电子学 中 数据传输采用 信号标准 我们选择 了两种 芯片 和 SN65LVDS32 FPGA LVDS 30 FPGA 来进行测试 我们利用 产生伪随机信号 并将其转换为 信号 经过 米传输后 再返 回至 进 muitidrop LVDS 行分析 由此对工作在 模式下 的 信号传输质量进行 了一系列测试 测试 内容包括 眼图 抖动和误码率 测试 LVDS 结果完全符合我们要求 的指标 表 明 信号标准适合应用在我们所设计 的电路 中 ! 关键词 LVDSmuitidrop伪随机数据 误码率 眼图 AoualitytestforLVDSSignalworkinginmultidropmode Xuejundong Liang~ao zhouYongzhao DepartmentofModernPhysics UniversityofScienceandtechnoiogyofChina ~efei230026 China AbstractInthefront-endeiectronicsofBESIIImuoncounterLVDSstandardwasusedtotransferdata.the paperseiectedtwoLVDSchips SN65LVDS3landSN65LVDS2 fortest.weusedaFPGAchiptogenerateatest signaiwithPRBSp