第七章最佳测量灵敏度条件的探讨.pdf

第七章 最佳測量靈敏度條件的探討 7.1 前言 光學的表面電漿共振(SPR)已經被廣泛的應用在生物科技和化學等的偵測上 [1~8] ，如 生物體的蛋白質(protein)-蛋白質 (protein) 、抗原(antigen)-抗體(antibody) 之特性探討或是化學中的物質特性 、成份解析和反應進行程度等之偵測 。在這些 應用中大多以測量在表面電漿共振發生時 ，p-偏光反射率會因待測物些微折射率 的變化而有所改變 [9] 。由於其測量均與光強度有關，因此容易受到光源的穩定 度 、環境散射光 、接收器和放大器電路干擾的影響 ，使得靈敏度降低 。另外 ，在 表面電漿共振現象發生時 ，反射 p-偏光的相位也會有急劇的變化 [10] ，假若以外 差干涉術來測其相位變化的話 則可以改善測量光強度的缺點， ，同時會有架構簡 單、可即時量測等優點。 不管是使用測量強度的變化或相位的變化 ，其主要目的就是在於待測物質有 微小的折射率變化時 ，必須要很靈敏且能準確性的測出 。在常用的表面電漿共振 裝置中都是鍍上穩定性較佳的金薄膜， 所以在這測量中， 可變的參數有入射角， 、 金薄膜厚度和待測量(待測量可能是光強度或是相位差 ) ，這些測量的條件必須在 最佳條件下 ，其靈敏度才會高 ，且才能得知待測物的變化情形 ；曾經有論文討論 測量 p-偏光的反射率在液體折射率變化為 0.004時，最佳測量的條件在入射角大 約為 83°附近且金薄膜厚度約在 50nm時會有最大的相對反射率差值，同時折射 -5 [11] 。因此本章中，我們將明確地推導出偏振光經由表 率變化靈敏度大於為 10 面電漿共振裝置反射後所產生的相位差之公式 ，同時藉由這些推導的公式去計算 在待測物折射率作微小變化時 ，其偵測相位差的最佳條件 ，同時利用最佳的條件 也計算出它們的折射率變化靈敏度 。最後再將計算所得的結果和在測量 p-偏光反 95 射率方法的結果作比較 ，進而探討出表面電漿共振裝置在測量待測物有微小折射 率變化時的最佳靈敏度條件。 7.2 原理 (a) 在 Kretschmann 組態下所產生的反射光之相位差： 當一線性偏振光以 θ入射至Kretschmann組態結構的裝置時[12] ，其結構如 Fig. 7.1所示。此裝置的結構是由半球形稜鏡在底面上鍍上厚度為 d的金屬膜，而第 2 三層則是待測物 ，稜 鏡 、金屬膜和待測物的折射率分別表示為n 、n =n+ik 和 n 。 1 2 3 則經由裝置反射回來的光， p偏光和- s-偏光之間的相位差 可以表示為 [13]: φ φ φ p −φ s , (7.1) 其中的 和 是 p-偏光和 s-偏光所形成的相位。而 和 可以表示為 : φ p φ s φ p φ s ⎡ i .sin .(1− i2 .e−4bd2 ) + i .e−2bd2 .sin( + 2ad ).(1− i2 ) ⎤ −1 1 φ i1 2 2 φ i2 2 1 φ i tan ⎢