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质谱法（Mass Spectrometry ，MS ） 定义：真空系统中将样品分子离解成带电的离子，并 通过对生成离子的质量和强度测定而进行样 品成分和结构分析的方法。 唯一可以确定分子式的方法 质谱图 不同质/荷的离子经质量分析器分开, 然后被 检测记录的谱图 横坐标: 质荷比 通常情况下, 质谱图主要记录的是单电荷离子, 因此实际上横坐标即为离子质量 纵坐标: 离子流的强度 最常见标注方法为相对丰度(reletive abundance), 将最强峰的强度定为100%,其它离子峰的强度以其 百分数表示 一、离子化方法 1. 电子轰击电离（electron impact ionization ，EI ） 应用最普遍、发展最成熟的电离方法 一般有机化合物的电离能为7~13 eV 大多数标准质谱图在70 eV获得。因为在此条件 下，电子能量的微小变动不会影响离子化过程，质 谱再现性好，便于计算机检索及相互对比。 含有较多的碎片离子信息 + M + e M + 2e 分子被打掉一个电子成为有一个不成对电子 的正离子，称为分子离子。 由于轰击所用的能量远大于有机化合物的电离 能，过多的能量使分子离子中的化学键断裂生成 碎片离子和游离基，或失去一个中性小分子。 M + A+ + B + + M C + D 电子电离的缺点 样品分子稳定性不高时，分子离子峰强度低，甚 至没有分子离子峰。 样品分子不能汽化或遇热分解时，更是没有分子 离子峰。 为了克服碎片离子峰太多、分子离子峰 强度太低甚至没有分子离子峰的缺点， 可才用软电离技术（soft ionization)。 2. 化学电离（chemical ionization ，CI ） CI EI 样品分子的 电离是经过 电子直接与样 离子-分子反 品分子作用 应而完成的 准分子离子 分子离子 过剩能量小 过剩能量多 加成离子（adduct ion ），称为准分子离子 （quasi-molecular ion) CH4 + e CH + + 2e 4 + CH2 + H2 + CH3 + H + + CH4 + CH4