利用小尺寸电荷耦合器件实现数字全息高分辨成像-物理学报.PDF

物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 62, No. 24 (2013) 244203 利用小尺寸电荷耦合器件实现数字全息高分辨成像* 1† 2 3 1 1 2 王华英 于梦杰 江亚男 宋修法 朱巧芬 刘飞飞 1) ( 河北工程大学理学院, 邯郸 056038 ) 2) ( 河北工程大学信息与电气工程学院, 邯郸 056038 ) 3) ( 北京理工大学自动化学院, 海淀 100081 ) ( 2013 年8 月15 日收到; 2013 年10 月6 日收到修改稿) 为了在降低数字全息显微成像系统成本的同时实现高分辨成像, 对像面数字全息显微术的记录与再现过程进 行了理论分析, 结合系统的点扩散函数, 对该系统的横向分辨率进行了分析. 得到了如下结论: 像面数字全息显微系 统的横向分辨率对电荷耦合器件(CCD) 光敏面尺寸变化不敏感; 对于常见的CCD 器件, 其像元尺寸的变化对该系 统的横向分辨率影响甚微. 此外, 对像面数字全息显微系统的成像特点进行了分析, 结果表明: 利用像面数字全息系 统可以实现物体信息的完整记录与再现, 其成像分辨率及像质优于预放大数字全息系统. 利用搭建的数字全息实验 记录系统, 从强度及位相两方面对理论分析结果进行了验证, 实验结果表明了理论分析的正确性. 关键词: 像面数字全息术, 横向分辨率, 点扩散函数, 小尺寸电荷耦合器件 PACS: 42.30.Kq, 42.40.Kw, 42.30.−d DOI: 10.7498/aps.62.244203 栅得到了最为典型的超分辨成像方法; 意大利的 78 1 引言 Granero 等 实现了超分辨技术与相移技术的结 合, 该方法虽然提高了再现像质量和成像分辨率, 数字全息显微术是一种全新的成像与测量技 但不能应用到实时显微成像中. 为了克服CCD 光 1 术 , 它实现了光学、光电转换技术、计算机技 敏面尺寸小、空间分辨率低的弱点, 数字全息合成 术的高度融合, 是一种全场的、非接触的、准实时 孔径的成像方法11−13 也得到了较多的研究, 如微 三维成像技术. 利用该技术可以同时获得物体的 11 调照明物光方向记录多幅全息图的方法 、移动 强度及位相分布, 并可以灵活地进行存储、传输、 12 CCD 记录多幅全息图的方法 , 但这些方法的实 滤波、自动聚焦、位相畸变补偿及多视角显示等. 时性太差, 不能实现活细胞的动态测量; 利用多个 上述优点表明数字全息显微术具有广泛的应用前 13 记录器件同时记录多幅全息图 , 解决了实时性 景2−5 . 但受到记录器件(如电荷耦合器件(CCD), 的问题, 但再现过程困难同时又引入了图像融合带 CMOS) 有限的光敏面尺寸及像元尺寸的限制, 数 来的位相误差. 总之, 基于合成孔径技术的数字全 字全息显微成像的分辨率还不够高, 这在很大程度