55nm工艺平台的标准单元库电路与版图设计研究研究.pdfVIP

Pr。cessandFabricationI工艺与制造 55nm工艺平台的标准单元库电路 与版图设计研究 李向阳，胡晓明 (上海华力微电子有限公司，上海201203) 摘要：作者基于55 nm工艺平台，自主设计标准单元库的电路与版图，并完成方法性研究及流程 验证。本报告主要从标准单元、尺寸定义、版图设计、Testchip设计四个方面对标准单元库的开 发工作进行分析与总结。 关键词：55 am；标准单元库；尺寸；版图；Testchip 中图分类号：TN405文献标识码：A文章编号：1674—2583(2017)05—0051—07 0．1 674-2583．2017．05．013 DOI：193394．issn．1 中文引用格式：李向阳，胡晓明．55nmm艺平台的标准单元库电路与版图设计研究【J】．集成电路 应用，2017，34(5)：51—57． ResearchonCircuitand of LayoutDesign StandardCell Basedon55nmPlatform Library LI Xiaoming Xiangyang，HU HualiSemiconductors 201 (Shanghai Corporation，Shanghai203，China．) Abstract：Thethesisdescribescircuitand and validation studyprocess layoutdesign，method hlmc researchfocusesonfour ofstandardcell basedon 55ULP library platform．Themainly cell standard well ofstandard units，sizedefinition，landscapedesign，as aspects library——the as testchipdesign． word：55am cell ULP，standard Key library，size，layout，testchip 1研究背景及意义 性，致力于开发性能优异、功耗和面积尽可能小的 常用的ASIC设计方法分为全定制设计和半定制设标准单元库。 计两种。全定制设计的灵活性高、性能更优，但设计周 标准单元库的基本设计流程如图l所示。 期较长，设计过程较复杂。半定制设计则由于可使用门 阵列逻辑和标准单元，相较之下能够大大简化设计，缩 2标准单元及其尺寸确定 短设计周期，提高芯片的成品率。随着芯片功能的日趋 2．1标准单元及其分类 复杂，以及市场对设计时效性的更高要求，半定制设 标准单元是标准单元库设计的基础，标准单元 计的应用愈发普遍。其所依赖的标准单元库也成为了 性能的好坏、种类的多少，都会影响着所设计的数 ASIC设计性能优劣的重要决定因素之一。 字IC的性能。 标准单元库是指集成电路设计所需单元的各种库文 常用的标准单元共132种具有逻辑功能的物理 件的集合，主要包括符号库、版图库、布局布线库、时 单元和8种没有逻辑功