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可靠性的数学基础; 可靠性的定量表征 常见的失效分布 产品的寿命表征 可靠性框图和数学模型 分布的检验;1 可靠性的定量表征;;1.2 失效概率F(t) 失效概率也叫累积失效概率或不可靠度(性)或分布函数，是指产品在规定的条件下，在时间t以前失效的概率，是寿命这一随机变量的分布函数，记作F(t)。 ;图1 F(t)与R(t)时间曲线;1.3 失效概率密度f (t) 失效概率密度(失效密度或分布密度)是指产品在t时刻的单位时间内，发生失效的概率，它用来描述在0?+?的整个时间轴上的分布情况。是寿命这一随机变量的密度函数f (t)。 ;Dn(t)表示(t, t+Dt)时间间隔内失效的器件数;1.4 瞬时失效率(失效率)l (t) 失效率是指产品在时刻t尚未失效的器件在单位时间内失效的概率，它用来描述在各个时刻仍在正常工作的器件失效的可能性。记作l (t) 在时刻t完好的产品，在[t, t+Dt]时间内失效的概率为;;两端取积分，有;2　常见的失效分布;图２ 一般电子元器件的失效率与时间的关系(浴盆曲线);第I区(早期失效阶段)：失效率高，失效率随时间的增加而下降；由一种或几种具有一定普遍性的原因(如设计、制造中的缺陷)所造成，对不同品种、不同工艺的器件，这一阶段的延续时间和失效比例是不同的。 减少该阶段失效的办法：严格工艺操作、半成品和成品的检验，合理筛选。 第II区(偶然失效阶段)：失效率低，近似为一常数，是器件的良好使用阶段，失效是由多种而又不太严重的偶然因素引起的。是产品最佳的工作阶段。 第III区(耗损失效阶段)：失效率明显上升，大部分器件相继失效，失效是由带全局性的原因(老化、磨损、耗损、疲劳等)造成的。 器件的设计、制造应尽快使其进入低失效率的偶然失效期，以推迟耗损期的到来。;独立地重复做n次上述试验，若随机变量x取值为 的事件(抽到的器件是次品)是k次，其概率为;则称随机变量x服从二项分布b(n,p)。显然;2.2 泊松分布;二项分布及泊松分布的情况如下表所示：;2.3 威布尔分布 威布尔分布的累积分布函数、失效密度函数和失效率分别为;形状参数m是三个参数中最重要的一个。其大小决定分布曲线的形状，表示一批产品的分散度。m???f(t)的影响最显著。当r和t0固定时，曲线形状随m而变化，如下图：;图４;位置参数r决定了分布的出发点。当m、t0相同，r不同时，其密度函数曲线是完全一样的，只是曲线的位置有所变动。;尺度参数t0 决定了f(t)曲线的陡度。在m和r值固定(这里r值设为0)时，不同的t0值，其概率密度f(t)曲线的形状基本相同，而只是沿坐标轴缩放的程度不同，相当于轴的刻度不同，如下图所示。它反映了产品工作时的负荷条件，负荷重，相应尺度参数要小些。;2.4 指数分布;2.5 正态分布(高斯分布);图７　正态分布曲线;分布函数为;正态分布的失效率与m,s2值无关，随时间呈上升趋势，属递增型。 正态分布主要用于制造过程中工艺过程控制及质量管理。;正态分布主要应用于考虑元器件耗损和工作时间延长引起的失效分布。从元器件失效特性的浴盆曲线可以看出，耗损失效的分布往往非常接近于正态分布。故可以用正态分布来有效地预测或估计可靠度。 正态分布反映了产品失效模式的多样性和失效机理的复杂性。;2.6 对数正态分布;相应的各有关特征量为;图９;表2 常用连续型概率分布;３ 产品的寿命表征;当n很大时，采用积分的形式可以将总体的平均寿命表示为;3.２ 寿命方差和寿命标准离差;3.3 可靠寿命、中位寿命及特征寿命;对于指数分布的情况，根据R(tR) = exp(-ltR)=R的关系，可直接求出tR ，即;图12 可靠性各主要特征量之间的关系;４ 可靠性框图和数学模型;图13 LC振荡回路及其可靠性框图 (a) 电路； (b) 可靠性框图;S1;系统;4.2 串联系统;利用F(t)+R(t)=1可得系统的失效分布为;当n个单元均工作在偶然失效期时，即li(t)= li是一常数，于是有;当各单元的失效率相等，即l1= l2=…= ln = l时;图17 串联下图的系统可靠度与串联单元数关系;4.3 并联系统;(1)纯并联系统;系统的失效密度分布为;对给定可靠度，增加并联单元数，使系统可靠度的临界增量迅速下降(如下图所示)。单元数n4时，系统可靠度增量很有限；且n增加结构复杂，成本昂贵。因此，不是并得越多越好。;图19 并联系统的可靠度与单元可靠度之间的关系;若n=2，则有;由n个并联单元组成的系统中，至少有k个单元正常工作系统s才正常工作，叫n中取k系统k/n(G)。;若单元寿命服从指数分布，Ri(t) = exp(-lit) (i = 1，2，3)，则;;图 20 四种组成方