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器件与模型的
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期末复习
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第一章 绪论
什么是微电子学,什么是集成电路?集成电路的分类
集成电路的战略地位
集成电路的发展历史
集成电路的发展规律(摩尔定律)
集成电路未来发展和挑战
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第2章 制作工艺
图形转换:将设计在掩膜版(类似于照相底片)上的图形转移到半导体单晶片上
掺杂:根据设计的需要,将各种杂质掺杂在需要的位置上,形成晶体管、接触等
制膜:制作各种材料的薄膜
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集成电路工艺
图形转换:
光刻:接触光刻、接近光刻、投影光刻、电子束光刻
刻蚀:干法刻蚀、湿法刻蚀
掺杂:
离子注入 退火
扩散
制膜:
氧化:干氧氧化、湿氧氧化等
CVD:APCVD、LPCVD、PECVD
PVD:蒸发、溅射
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集成电路的制作流程
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第3章 器件与模型
一、MOS晶体管
MOS晶体管结构和基本原理
MOS中二级效应
MOS晶体管的模型参数
MOS晶体管的电阻和电容—— MOS管的动态特性
二、集成电阻器
三、集成电容器
四、集成电感器
五、集成电路中的互连线
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电阻工作区
Cox:栅氧的单位面积电容
tox:氧化层厚度
Vn(x):载流子的漂移速度
W:沟道宽度
Un:迁移率的参数
在沟道全长L上积分得到电压—电流关系
增益因子
当VDS的值较小时,VDS和ID成线性关系,称电阻区或线性区
电流为载流子的漂移速度和所存在电荷的乘积
工艺跨导
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饱和区
夹断
ID与VGS间存在平方关系,相当于一个理想电流源,与VDS无关
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MOSFET的电流与电压的关系(长沟道)
线性区:
工艺跨导参数
饱和区
沟长调制
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第3章 器件与模型
一、MOS晶体管
MOS晶体管结构和基本原理
MOS中二级效应
MOS晶体管的模型参数
MOS晶体管的电阻和电容—— MOS管的动态特性
二、集成电阻器
三、集成电容器
四、集成电感器
五、集成电路中的互连线
E
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