莱普士光电科技LED 测试系统简介.PDFVIP

萊普士光電科技 LED 測試系統簡介 適用於LED之光性、電性測試 六大特點 可量測流明,光功率,頻譜,色座標,色溫,演色性 可當標準機,測試絕對亮度,不需標準件校正,與IS 系統對校,亮度誤差3%以內 亮度線性度極佳, 1流明校正完可準確測試至1000 流明 積分球均勻性極佳,置於任何位置均可測得準確之 結果 量產機搭配小型積分球, 極快之測試速度 人性化的操作介面,完整的功能 For High Power LED LED2010A基本架構 輔助光源 50cm積分球 電腦/ 電性量測模組 光譜卡 精確的光、電性測試結果 使用頻譜積分計算所得之亮度值，使「視函數 曲線」完全符合實際曲線 目前一般廠家因使用矽偵測器加上濾鏡，某些頻 段之範圍與視函數之誤差有可能會差到20%以 上，因而造成量測上的巨幅誤差 濾鏡會隨使用時間而霧化(幾個月至1年),會進一步 加大與視函數的誤差 以我們的Solution, 目前與IS比對, 亮度可以準確到 接近1000倍, 即您用1流明的標準燈校正完後,測試 接近1000流明的值仍是準確的 可以直接測試光功率(mW) 遮光罩設計 精確的光、電性測試結果 精確的輔助光源校正: 欲量測流明絕對値時(亦即產生標準件),可先執行輔助光 源校正,將待測物本身自吸收頻譜補償回來, 如此便可測 得絕對亮度! 精確的光、電性測試結果 極佳之積分球均勻性: 對一般測試系統而言,待測物置於球內不同位置,測試到的結果會有極大之 差異; 我們的測試系統具有極佳之均勻性, 不管您的LED置於積分球何處(如 球壁,或球中心),均可測得最接近之數值!! 以下為將待測物置於球內不同位置及其測試到之數據: 位置1: 將LED置於專用治具 由積分球側壁球孔伸入測試 測試結果: 位置2: 裝上測試載台將LED 固定於載台上 註: 測試時, 僅進行治具自吸收校正(輔助光源校正), 沒有作AX+B 補償 精確的光、電性測試結果(續) 不須用標準件校正, 與IS 比對(僅用鹵素燈校正), 白光,單色光均非常 準確 精確的光、電性測試結果(續) 極佳的亮度 (Lumen) 線性度 精確的光、電性測試結果(續) 極佳的光功率(mW) 線性度 可連接自動機台, 當量產機 測試條件: 積分時間: 20mS 測試項目: 1uAVf,350mAVF Ir, LOP, mW, WLD, xy, CCT, 測試時間(2010A): ~60mS For SMD Low Power LED mcd量測內建小積分球,確保mcd量測之再現性 傳統收光機構 我們的收光機構 CIE127-B 套筒 人性化的操作介面, 完整的功能 適合量產畫面 可自行設定測試項目及順序 選擇多顆標準晶粒或單顆標準晶粒校正(校正之Gain, Offset均會顯示出 來, 讓您知道機台目前偏移量) 勾選自動產生分BIN矩陣(設BIN約1分鐘內可完成,可任意設定展開順序) 即時觀察歷史測試資料分布圖 觀察即時CIE落點分布, 可放大縮小圖形 測試畫面可即時觀察1000筆測試資料,並可複製到excel 處