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HT-7装置低杂波实验的芯区密度涨落研究 李亚东，李建刚，张晓东，张涛，章文扬 及HT-7实验团队 IFTC Dec 25-27 2008 Hangzhon Tore Supra装置上的相关测量结果 2007年HT-7装置低杂波功率扫描实验的芯区密度涨观测(密度涨落强度阈值性爆发现象) HT-7装置低杂波实验芯区密度涨落阈值性爆发的特征 密度涨落阈值性爆发时间与低杂波功率的关联 2008年HT-7装置低杂波功率扫描实验中的芯区密度涨落观测(没有观测到强烈的微观模不稳定性的阈值性爆发)等离子体放电参数IP=120kA,ne=1.5×1019m-3,BT=1.9T 中心道H?线辐射强度在低杂波注入功率约为320kw时，存在着低点，有粒子约束改善现象。是否存在Neoclassical pinch effects associated with trapped electrons？ 芯区等离子体电子温度随低杂波注入功率增加的变化趋势；当IP=120kA时，电子温度随低杂波功率增加起伏上升，可能存在微观模转换导致的能量输运变化。 等离子体放电参数IP=150kA, ne=1.5×1019m-3, BT=1.9T?S≈1-1.2mm 下一步的考虑： 在k?=8-30cm-1波数范围内进行四k同步监测，进一步研究低杂波功率扫描下的微观模转换现象。 进行两个不同等离子体密度平台下的RF功率扫描实验，研究微观模的变化。 进行k谱扫描，给出不同等离子体电流平台、典行低杂波功率下芯区密度涨落的k谱。 * HT-7 提纲 1.背景与动机 2.密度涨落研究的意义 3.实验中的宽波数密度涨落测量诊断 4.HT-7装置低杂波功率扫描实验的芯区密度涨观测 5.下一步的考虑 Some Wide Open Areas in RF Current Drive Neoclassical pinch effects associated with trapped electrons Transport control Current Drive effects associated with ions Combine with Alpha Channeling Long term opportunities -- cycling Nathaniel Fisch Princeton University P.Devynck et al Plasma Phys Control Fusion 39 1355 HT-7 提纲 1.背景与动机 2.密度涨落研究的意义 3.实验中的宽波数密度涨落测量诊断 4.HT-7装置低杂波功率扫描实验的芯区密度涨观测 5.下一步的考虑 密度涨落研究的意义 等离子体中的密度涨落是普遍的现象，是导致等离子体反常输运的重要原因 在托卡马克等离子体平衡态，径向梯度使等离子体压力、密度、温度、电流密度在等离子体芯区峰化。这些梯度驱动了等离子体中的不稳定性. 偏离热平衡态的等离子体具有多余的自由能，自由能的释放就有可能驱动微观不稳定性。微观不稳定性的等离子体的特征是出现不断增长的涨落现象。这往往导致湍流的产生，形成反常输运，目前流行的观点是,反常输运是由湍流等非线性过程所引起 的。 HT-7 提纲 1.背景与动机 2.密度涨落研究的意义 3.实验中的宽波数密度涨落测量诊断 4.HT-7装置低杂波功率扫描实验的芯区密度涨观测 5.下一步的考虑 实验中的宽波数密度涨落测量诊断 NSTX，五道（5k）1毫米切向相干散射（2006建成）， 波数测量范围2-24cm-1 kr DIII-D约1毫米微波前向散射8-15cm-1 ＋ 极小角散射1-2cm-1。 HT-7 四路（4k）CO2激光相干散射，波数测量范围12-34cm-1 k? DIII-D三毫米背向散射（2003建成），测量波数范围35-40cm-1 。 Tore Supra微波Doppler反射仪（2006建成），波数范围3-20cm-1 。 AUG，微波Doppler反射仪（2006建成）波数范围3-20cm-1 。 k⊥ 二氧化碳激光相干散射原理 ——电磁波相干散射 相干散射 波数选择 (Bragg条件) 波数分辨 纵向分辨 湍流散射光功率 W-探测束的束腰 ?D-德拜长度 HT-7 提纲 1.背景与动机 2.密度涨落研究的意义 3.实验中的宽波数密度涨落测量诊断 4.HT-7装置低杂波功率扫描实验的芯区密度涨观测 5.下一步的考虑 All the shots of fluctuation burst distribute in the rectangle range; The discharge paramet