基于ate的dsp测试方法 method of dsp testing on ate.pdfVIP

基于ate的dsp测试方法 method of dsp testing on ate.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
基于ate的dsp测试方法 method of dsp testing on ate

20lo年2丹 电子测试 Feb。20lO 第2期 ELECTRONICTEsT No.2 基于ATE的DSP测试方法 轩涛 (北京自动测试技术研究所北京100088) 摘要:本文以TI公司的DSP5509A为例,介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法。本文论述的 DSP功能模块的测试算法,指令测试方法,脱机开发DSP功能诊断程序的方法已经在国产BC3193V50集成电 路测试系统上运用,结果表明是有效的。其中针对DSP功能模块的测试算法以穷举为出发点,具体实现方式 包括基本测试模块的反复调用,同模块内所有属性的遍历测试,不Id模块间属性的交叉组合测试。最后本文 论述了测试程序在不同测试系统移植中需要注意的问题。 关键词:DSP;集成电路测试系统;测试图形;指令测试;测试程序移植 中图分类号:TP319文献标识码:B ofDSP onATE Method testing XuanTao 100088 Automatic Institute China) (Beijing TestingTechnologyBeijing themethodof DSP onATE TI DSP5509A Abstract:Thisintroduced paper testingchip byusingcompany‘S theDSP’s methodforDSP’s forinstance.Thediscussed functionalmodule chip paper testingalgorithm.the from instructionsandthemethodof theDSPfunction’s ATE diagnosis independent testing writing sequence The andthemethodsmentionedabovehavebeen ontheBC3192V50 algorithm applied integratedtestingsystem Theresultshowsthe andthemethodsare DSP’sfunctionalmodule algorithm effective.Specially。the testing fromthebaseof allthefunctionalmodules’attributes.Theof the algorithmoriginates covering waysrealizing functionalmodule include

您可能关注的文档

文档评论(0)

hello118 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档