基于ate的fpga测试方法 fpga testing approach based on ate.pdfVIP

帚 烈照 蝓熙馘溯诚家溱 ■吉国凡赵智昊杨嵩 摘 要：本文以xi：|inx公司基于sRAM的FPGAxc40lo为研究对象，将FP。 GA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试，并阐述 的方法。 关键词：FPGA、测试、CLB、配置 是FPGA的主要部件．Xilinx4010CLB的基本逻辑 _l 曩I寓 结构如图1所示。从图中可以看出，CLB主要是由 两个查找表(LUT)，一个进位逻辑，两个D触发器及 随着集成电路技术的发展．现场可编程门阵列 一些多路选择开关组成。 Gate 2．2单个CLB逻辑资源的覆盖 FPGA(FieldProgrammableArray)器件的应用 越来越广泛，其测试技术也得到了广泛重视和研 由于CLB能实现的逻辑功能较多，通过对 究。FPGA的测试可分为面向制造的测试过程CLB的一次编程来完全覆盖其功能是不可能的，但 (MTP)和面向应用的测试过程(ATP)两类。MTP主穷尽每一种逻辑来验证CLB的功能也是不可能 要是从制造商的角度来测试．测试成本主要体现在 的．因此我们根据CLB的逻辑结构设计几种测试 测试向量集长度所决定的测试时间的费用上。MTP 配置，能够覆盖CLB的大部分功能。对于4010来 主要针对可编程逻辑块(CLB)、输入输出单元 (IOB)、可编程连线(PI)及编程用的SRAM等进行式、LUT模式、进位逻辑功能及D触发器，至于多 测试。ATP是在应用级上的测试，也就是把FPGA路选择器，将其配制在这几个模式里即可。因此，实 配置为特定的功能进行测试，具有很强的针对性， 测试过程相对简单。国内的研究大多集中在MTP， 计数器模式，可基本覆盖CLB的逻辑资源，如图2、 且主要用于自主搭建的测试系统，可移植性差。本 图3所示。其中红线为配置后的电路，绿线为没有 研究基于J750测试系统用Xilinx4010为研究对配置到的部分。 象，使用两种简单的电路，即可完成对LUT、进位逻 从图2可以看出，将CLB配置成RAM模式， 辑、D触发器的测试，而且修改方便，可移植性好， 为FPGA的通用测试提供了一种方法切实可行的式包含在RAM模式中，因此不用再单独测试ROM 有效方法。 模式)，覆盖了除进位逻辑和D触发器外的其他逻辑 单元。 2可编穗逐辑瓷源测试 从图3可以看出，将CLB配置成计数器模式． 实现了F函数和G函数的LUT功能，覆盖进位逻辑 2．1可编程逻辑资源(CLB) 和D触发器。 可编程逻辑功能块实现FPGA中的逻辑功能， 综上所述．用这两种电路．可以覆盖CLB中除 屯蚤．测i蠹 剁 ELEC_f∞NIeTEST 万方数据 图1 XiIinx4010CLB逻辑图 图2将CLB配置成RAM模式的逻辑图 多路选择器外的所有逻辑资源，基本覆盖CLB的 次配置，直至测完所有的CLB。由于每一次测试 输入输出。因此，用这两种电路可以实现对CLB的 测试。 此CLB测试的重点就集中在CLB的配置。即如何 2．3 CLB阵列的测试配置