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量测试验报告
量測實驗報告
SL10
Strain Measurement
姓名:
學號:
實驗日期
實驗原理：
1. Electrical-Resistance Strain Gage
2. Wheatstone Bridge
※實驗一
Strain-Gauge Quarter Bridge – Wire Gauges
(1)實驗目的：
(2)實驗步驟：
(3)實驗紀錄：
Micrometer Reading Meter Reading (mV) balance +2mm balance balance -2mm balance -4mm balance -6mm balance -8mm System sensitivity = mV/mm
(以量為X軸，電壓讀數為Y軸作圖，並推導出Y = aX + b)
(4)討論與分析：
※實驗二
Strain-Gauge Quarter Bridge – Wire Gauges, Effect of Temperature Variation
(1)實驗目的：
(2)實驗步驟：
(3)實驗紀錄：
Temperature (°C) Meter Reading (mV) 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 System sensitivity = mv/°C
(以溫度為X軸，電壓讀數為Y軸作圖，並推導出趨勢線Y = aX + b)
※實驗三
Strain-Gauge Quarter Bridge – Wire Gauges, Use of Compensating Gauge
(1)實驗目的：
(2)實驗步驟：
(3)實驗紀錄：
Temperature (°C) Meter Reading (mV) 41 40 39 38 37 36 35 34 33 32 31 System sensitivity = mv/°C
(以溫度為X軸，電壓讀數為Y軸作圖，並推導出趨勢線Y = aX + b)
※實驗五
Strain Gauge Full-Bridge - Wire Strain Gauges
(1)實驗目的：
(2)實驗步驟：
(3)實驗紀錄：
Micrometer Reading Meter Reading (mV) balance +2mm balance balance -2mm balance -4mm balance -6mm balance -8mm System sensitivity = mV/mm
(以量為X軸，電壓讀數為Y軸作圖，並推導出Y = aX + b)
(4)討論與分析：
※實驗六
Strain Gauge Quarter Bridge – Semi-Conductor Strain Gauges
(1)實驗目的：
(2)實驗步驟：
(3)實驗紀錄：
Micrometer Reading Meter Reading (mV) balance +2mm balance balance -2mm balance -4mm balance -6mm balance -8mm System sensitivity = mV/mm
(以量為X軸，電壓讀數為Y軸作圖，並推導出Y = aX + b)
(4)討論與分析：
※實驗七
Strain Gauge Quarter Bridge – Semi-Conductor Strain Gauges Effect of Temperature Variation
(1)實驗目的：
(2)實驗步驟：
(3)實驗紀錄：
Temperature (°C) Meter Reading (mV) 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 System sensitivity = mv/°C
(以溫度為X軸，電壓讀數為Y軸作圖，並推導出趨勢線Y = aX + b)
(4)討論與分析：
實驗相關問題
1.請比較(1) quarter bridge和full bridge, (2) wire gage和semiconductor gage的實驗結果，並說明造成彼此差異的原因。
Ans：
2.請說明溫度差異對應變計輸出所造成的影響，如何避免溫差異所造成的誤差？
Ans：
報告請於實驗後隔週週五晚上12點前email至lunaseazx@
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