内建自测试的测试生成方法研究 research of test generation for built-in self-test.pdfVIP

2010年1月 电 子 测 试 Jan.2010 第1期 ELECTRONIC TEST No.1 内建自测试的测试生成方法研究 郭斌 （山西省稷山广播电视服务中心，043200） 摘要：内建自测试（BIST）方法是目前可测试性设计（DFT）中应用前景最好的一种方法，其中测试生成是 关系BIST性能好坏的一个重要方面。测试生成的目的在于生成尽可能少的测试向量并用以获得足够高的故障 覆盖率，同时使得用于测试的硬件电路面积开销尽可能低、测试时间尽可能短。内建自测试的测试生成方法 有多种，文中即对这些方法进行了简单介绍和对比研究，分析了各自的优缺点，并在此基础上探讨了BIST面 临的主要问题及发展方向。 关键词：可测性设计；内建自测试；测试生成；线形反馈移位寄存器；重复播种 中图分类号：TN407 文献标识码：A Research of test generation for built-in self-test Guo Bin (Radio and Television Service Center，Jishan, Shanxi 043200,China) Abstract: BIST is a best prospect method for DFT and test generation is one of the most important parts of BIST. The focus of test Generation is how to generate test vectors as few as possible that can achieve fault coverage sufficiently while test circuits area overhead and the testing time should be as little as possible. Many methods for test generation are analyzed and contrasted. Finally, we discuss issues remain to be resolved and it development. Keywords: Design for Test (DFT)；Built-In Self-Test (BIST)；Test Generation；Linear Feedback Shift Register (LFSR)；Reseeding 0  引言 的一般结构包括存储有测试图形的 ROM 和线性反 馈移位寄存器（LFSR）。测试响应分析器（ORA） 内建自测试（Built-In-Self-Test，BIST）技术 的典型结构包括存有测试响应的压缩器和用 LFSR 是可测性设计（Design for Test, DFT）的一种。内 组成的特征分析器（Signature Analyzer）。控制单元 建自测试方法主要通过在芯片上集成测试结构完成 （BCU）用来控制测试和响应分析。 测试图形的生成和测试响应的分析，这样在很大程