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spc指导书 篇一：spc作业指导书 无锡银邦铝业有限公司 第 1 页 共 5页 1.0 目的： 了解过程变差，以帮助达到统计控制状态。 2.0 定义： 2.1 SPC------英文Statistical Process Control的字首简称，即统计过程控制。SPC就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质 量的目的。SPC强调全过程的预防。 2.2 控制图------对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学方 法设计的图。图上有中心线(CL)、控制界限(UCL)和下控制界限(LCL)，并有 按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。 3.0 适用范围： 适用于均植和极差值(X一R 控制图)、CPK的运用。 4.0 职责： 4.1 质量部现场QC负责收集数据绘制图表; 4.2 质量工程师负责输入SPC软件，并分析过程控制能力。 5.0 作业内容： 5.1 X一R控制图对于计量值数据而言，这是最常用最基本的控制图。x控制图主 要用于观察分布的均值的变化，R控制图用于观察分布的分散情 况或变异度的变化，而x一R图则将二者联合运用，用于观察分 布的变化。它用于控制对象为厚度、宽度、长度、重量、强度、 纯度、时间和生产量等计量值的场合，本公司用于控制对象为铝 材厚度、宽度及化学成分。 5.2X一R控制图的制作： 步骤1： 记录原始数据； ● 厚度—由二车间现场QC记录25组数据，每组5个数据，以作一张 完整的x一R控制图。 第 2 页 共 5 页 1测量要求及方法：同种牌号、道次的铝卷每卷记录5组数据，频 ○ 率为每分钟记录5个数据。 2测量工具：目测1450冷、箔轧主操控台上测厚仪数显数据。 ○ ● 宽度—由三车间现场QC记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的x一R控制图。 1测量要求及方法：成品为同样宽度（同时也是同种牌号、厚度） ○ 的每卷铝卷头、尾各测量一点（排好刀后的首检及分切完成后的末 检各一次）。 2测量工具：用精度是企标厚度公差精度10倍的千分尺、游标卡尺 ○ 及米尺。如0.08*16mm规格的铝卷，企标公差精度为0.01mm，则 应用0.001mm精度的千分尺测量。 ● 化学成分—由理化人员记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的x一R控制图。 1检测要求及方法： ○同种牌号每炉熔炼检测成分后记录（第一次配料 后）。 2测量工具：目测直读光谱仪 ○ 步骤2： 计算样本均值x； X=(X1+ X2+。。。+ Xn)/n 式中：X1，X2。。。为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。 步骤3： 计算样本极差R； R= X最大值- X最小值 步骤4： 计算样本总均值X与平均样本极差R ； 1X= n1R =xi?ni?1n?Ri?1n 第 3 页 共 5 页 步骤5： 计算R图与x图的控制界限。 计算x一R图应该从R图开始,因为x图的控制界限中包含R,所以 若过程的变异度失控,则计算出来的这些控制界限就没有多大意 义。 R图的控制界限计算公式如下： UCLR=D4R LCLR=D3R x图的控制界限计算公式如下： UCLx=x+ A2R LCLx=x-A2R 式中,系数A2、D3、D4见计量值控制图系数表如下： ●* 对于样本容量小于7情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。 步骤6： 标注控制图的刻度； 步骤7： 将均值和极差画到控制图上。 ●平均极差（R）及过程均值（X）——水平实线。 ●控制限(UCLR ，LCLR, UCLx ，LCLx）——水平虚线。 在初始研究阶段，这些被认为是试验控制限。 5.3 x一R 控制图的分析： 第 4 页 共 5 页 5.3.1超出控制限的点一出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处于失控状 态的主要证据。因为在只存在普通原因引变差的情况下超出控制限的点会很少，我们便假设超出的是由于特殊原因造成的。因此，超出控制限的点作标记，以 便根据特殊原因实际开始的时间进行调查，采取纠正措施。 超出上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： ●控制限计算错误或描点时描错 ●零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种曾大可以发生 在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分； ●测量系统变化（例如，不同人检验员或量具）； ●测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在 下列情况的一种或几种： ●控制限或描点错误； ●