槲棚对触头材料霎篡萎冀兰淼裟.pdf

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槲棚对触头材料霎篡萎冀兰淼裟

第28卷第3期 电工电能新技术 V01.28,No.3 2009年7月 Advanced ofElectrical and 2009 Technology EngineedngEnergy July 触头电弧侵蚀的研究 李 靖1’2,马志瀛2 (1.湖南工程学院,湖南湘潭411101;2.西安交通大学,陕西西安710049) 触头材料电孤侵蚀机理。 关键词:50I-lz;400I-lz;阻性;AgMeO;触头材料;电弧侵蚀 中图分类号:TM501+.3;TM241文献标识码:A 文章编号:1003.3076(2009)03.0011.04 和AgSn02 1 引言 蚀进行了对比研究。因铜基动触头非本文分析对 开关电器常用的AgMeo电触头材料主要包括象,故动触头内容略。 AgCdO、AgSn02、银稀土氧化物、AgZnO等…,其中 2试验参数 AgCdO因其良好的导电、耐电磨损和抗熔焊性曾被 公认为最佳触头材料,但“镉毒”使其不得不退出开 试验所用动静触头的材料、触头尺寸、试验电流 关电器触头材料行列。作为其重要替代品,A#n02与通电操作的频率、触头开距等参数如表1所示。 的抗熔焊性和抗电磨损性优于AgcdO,但加工困难、 裹1 电触头材料与试验参数 电阻率和接触电阻较前者高、AC3下电寿命较前者 Tab.1Electricalcontactmaterialand 低等是其缺陷,为此可添加氧化物加以解决,如给 experimentalparame岫 IIl20,即是一种成熟的办 分析对象 参数 AgSn02加In制成AgSn02 法。由于50Hz下CdO与SnO:热物理性质不同,使 槲棚对触头材料霎篡萎冀兰淼裟 得AgCdO和AgSn02具有不同电弧侵蚀机理,其中, 触头截面尺寸 均为5×5哪2 CdO以分解、消耗能量的形式降低Ag蒸发量和增加 动静触头开距 2.0唧 粘度、降低喷溅量,而Sn02是利用良好的热稳定性 试验电流频率 50Hz与400Hz 使液体保持高粘度,以达到耐电弧侵蚀的目的。 通断操作频率 60次/min 根据50Hz、低压、小电流的开关电器触头材料 试验负载最佳应是纯阻性、开关电器动静触头常常 3 CAgCdO坫与AgSn02In203的材料称重 是非对称性配对等特点,本文利用研发的开关电器 限于篇幅,仅将10A、两种频率、两种材料的称 触头材料测试系统陋J,完成了501-1z与400Hz、纯阻性 重结果列入表2。可见,CAgcdO.,材料基本没变化, (2.5Q,2cHDW)、小电流的通断试验,用电光分析天 而AgSn02IIl20,先减后增,在通断1000次后出现 平对试件重量进行了称量,用扫描电镜和能谱仪对 急变。 试件表面进行了观测,并在此基础上,对CAgCdO,, 收稿日期:2008.

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