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薄膜工程与应用期中报告薄膜制作之溅镀介绍
薄膜工程與應用
期中報告
薄膜製作之濺鍍 介紹
班級碩研光電一甲:
學生:楊育瑞 MA3L0101
授課老師:吳文端 老師
薄膜的形成
薄膜的生長過程直接影響到薄膜的結構以及最終的性能。圖一表示薄膜沉積中
原子的運動狀態及薄膜的生長過程。射向基材及薄膜表面的原子、分子與表面相
碰撞,其中一部分被反射,另一部分在表面上停留。停留於表面的原子、分子,
在自身所帶能量及基材溫度所對應的能量作用下,發生表面擴散(surface
diffusion)及表面遷移 (surface migration) ,一部分再蒸發,脫離表面,一部
分落入位能谷底,被表面吸附,即發生凝結過程。凝結伴隨晶核形成與生長過程,
島形成、合併與生長過程,最後形成連續的膜層。
圖一、薄膜形成過程
薄膜結構
在薄膜的沉積過程中,入射的氣相原子首先被基材或薄膜表面所吸附。若這
些原子具有足夠的能量,它們將在基材或薄膜表面進行擴散運動,除了可能脫附
的原子之外,大多數的被吸附原子將到達生長中的薄膜表面的某些低能位置。在
薄膜沉積的過程中,如果基材的溫度條件許可,則原子還可能經歷一定的體擴散
過程。因此,原子的沉積過程包含了三個過程,即氣相原子的沉積或吸附,表面
擴散以及體擴散過程。由於這些過程均受到過程的啟動能的控制,因此薄膜結構
的形成將與沉積時的基材相對溫度 Ts/Tm 以及沉積原子自身的能量密切相關,這
裡 Ts 為基材溫度,而 Tm 為沉積物值的熔點 。
圖二、基材相對溫度 Ts/Tm和濺鍍氣壓對薄膜組織的影響
對薄膜組織的形成具有重要影響的因素除了基材溫度之外,濺鍍氣壓也會直接
影響入射在基材表面的粒子能量,即氣壓越高,入射到基材上的粒子受到的碰撞
越頻繁,粒子能量也越低,因而濺鍍氣壓對薄膜結構也有很大的影響。
基材相對溫度Ts/Tm和濺鍍時 Ar氣壓力對於薄膜組織的綜合影響如圖 二所
示,在溫度很低、氣壓較高的條件下,入射粒子的能量較低,原子的表面擴散力
有限,形成薄膜組織為晶帶 1型的組織。晶帶 T型組織是介於晶帶 1和晶帶 2
之間的過渡組織,沉積過程中臨界核心尺寸雖然很小,但原子已經開始具有一定
的表面擴散能力。 Ts/Tm=0.3~0.5時形成的晶帶 2是表面擴散過程式控制的生長
組織。這時原子的體擴散上不充分,但表面擴散能力已經很高,已可進行相當距
離的擴散,因而沉積陰影效應的影響下降。基材的溫度(Ts/Tm0.5)繼續升高將
使得原子的體擴散開始發揮重要的作用,因此晶粒開始迅速成長,甚至超越薄膜
厚度,組織是經過充分再結晶的粗大等軸晶式的晶粒磊晶組織,晶粒內缺陷密度
很低,即表現為晶帶 3型的薄膜組織。
在溫度較低時,晶帶 1 與晶帶T型生長過程中原子的擴散能力不足,這兩類
生長被稱為抑制型生長。與此對應,晶帶2型和晶帶 3型的生長被稱為熱啟動型
生長。
濺鍍原理介紹
圖 三、濺鍍示意圖
如圖三所示,為濺鍍 法示意圖,真空腔體中以靶材為陰極,通入惰性氣體 氬(
氣 ) ,氣體內少量的自由電子受到外加電場作用,電子在電場中會被加速獲得能
量,在低壓分子間平均自由徑比常壓長,故電子會有較長的加速距離而獲得高的
能量,高能量的電子經由碰撞運動將動能轉移至惰性氣體上,使得氣體分子被離
子化形成電漿,因電場的作用下,氣體中的正離子受到陰極靶材端所吸引,加速
撞擊靶材表面。基於動量轉換原理,離子轟擊產生了二次電子另外還會將靶原子
給擊出,而沉積於工件上,此動作稱為濺鍍。
磁控濺鍍 法
如圖四所示, 為磁控濺鍍法示意圖,磁控濺鍍其 基本原理乃根據離子濺射原
理,當高能粒子(通常是由電場加速的正離子)衝擊到固體表面,固體表面的原
子和分子在與這些高能粒子交換動能後,就從固體表面飛出來,此現象稱之為「濺
射」。
先利用電場使兩極間產生電子,這些加速電子會與鍍膜室中己預先充入的惰
性氣體碰撞,使其帶正電,這些帶正電的粒子會受陰極(靶材)吸引而撞擊陰極,
入射離子(通常用氬氣)受到電場作用獲得動量,撞擊靶材表面的原子,這些原
子受到正電離子的碰撞得到入射離子的動量轉移,被撞擊的靶材表面原子因接受
入射離子的動量,對靶材表面下原子造成壓擠使其發生移
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