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Transmission Electron Microscope TEM 聚苯乙烯-b-聚甲基丙烯酸-2-肉桂基乙酯（PS-b-PCEMA） 二、嵌段共聚物纳米纤维 聚合物II的有序微区结构 聚合物II纳米纤维的TEM图像 聚甲基丙烯酸丁酯-b-聚甲基丙烯酸-2-肉桂基乙酯（PtBA-b-PCEMA） 三、具有可调节纳米孔道的高分子薄膜 x = 230, y = 370 孔径 10nm 经染色的x = 230, y = 370样品的TEM图像 经四甲基硅烷浸泡的薄膜的TEM图像 未染色的完全水解的薄膜的TEM图像 孔径 15nm x = 380, y = 640 聚甲基丙烯酸丁酯-b-聚甲基丙烯酸-2-肉桂基乙酯-b-聚丙烯酸叔丁酯（PBMA-b-PCEMA-b-PtBA） 用三元嵌段共聚物制备纳米管的过程示意图 以PAA为衬里的PBMA-b-PCEMA纳米管中浸渍了?-Fe2O3后的TEM图像 问题一：如何判别明暗区域所对应的组分？ * * 透射电子显微镜 在高聚物结构研究中的应用 TEM工作原理 高能电子束与固体样品的相互作用 入射电子束 透射电子束 背散射电子 俄歇电子 二次电子 特征X射线 阴极荧光 吸收电子 束感生电效应 JEM200CX透射电镜全貌 控制照明系统 电子光学系统 真空系统 控制成像系统 样品输送系统 控制极 热阴极 阳极 聚光镜 聚光镜光栅 试样 物镜 衍射束 物镜光栅 中间镜光栅 中间镜 投影镜光栅 投影镜 照相机 荧光屏 光源系统 成像系统 记录系统 电 子 光 学 系 统 TEM的应用 Transmission Electron Microscope (TEM) 观察高分子晶体的形貌和晶体结构； 对高分子晶体的晶格直接成像； 测定高分子微孔薄膜的孔径大小与分布; 测定聚合物共混体系的微相分离; 表征嵌段共聚物的纳米结构； ………… 高能电子束与固体样品的相互作用 入射电子束 透射电子束 背散射电子 俄歇电子 二次电子 特征X射线 阴极荧光 吸收电子 束感生电效应 问题一：如何制备样品才能获得理想的TEM图像？ 样品条件对TEM观测的影响 厚度（起伏、孔洞……) 组成（金属、重原子……) 分布（微区、颗粒……) 状态（非晶、结晶……） 性质（导电、分解……) 对样品的基本要求 一、样品的尺寸 见放大图 对样品的基本要求 一、样品的尺寸 3mm 样品横向尺寸小于1mm 对样品的基本要求 二、样品的厚度 电子加速电压 V = 100kV 穿透深度 ? 200nm （碳膜） 样品厚度 ? 100 ~ 200nm 入射电子束 透射电子束 对样品的基本要求 三、样品支持膜 样品 样品+铜网 样品发生形变 影响测试结果 样品支持碳膜 样品 样品无形变 得到真实信息 碳膜的优势：对电子束透明度高、耐电子轰击、强度高、导电、导热、迁移性好 碳膜的厚度：20nm 碳膜存在的问题： 由碳组成，与高聚物组成相似，背景噪声强，影响图像分辨率。 对样品的基本要求 四、微栅膜 解决的方法： 制备微栅支持膜。 对样品的基本要求 四、微栅膜 疏水剂吸附层 玻璃片 微米水珠 聚乙烯醇缩甲醛溶液层 挥干溶剂 微栅支持膜 改善TEM图像的特殊措施 一、投影 高聚物多由C、H、O、N组成，原子序数小，电子散射能力弱，图像衬度低。 利用重金属投影，显著增强局部电子散射能力，获得提高的图像衬度。 投影原理 投影处理 l h ? 聚乙烯单晶的TEM 照片 用Pt-C投影后的聚乙烯单晶的TEM 照片 应用投影技术时应注意的事项 一、根据样品表面粗糙度选择投影角度； 二、注意投影角度，以便测试出单晶的厚度； 三、注意投影角度，以便测试出单晶的台阶高度； 四、根据表面状况选择重金属的种类及用量； 五、投影的明暗与通常的视觉相反； 六、投影只对支持膜上侧的样品有作用。 改善TEM图像的特殊措施 二、超薄切片 在大块高聚物样品时，采用超薄切片技术可以在不改变样品本征结构的条件下获得样品内部结构信息。 超薄切片的技术问题 一、切片操作可能带来样品结构的改变，因此要采取冷冻、包埋等预处理措施。 二、超薄切片样品通常不能直接进行TEM测试，需要经过染色、刻蚀等方法进行处理。 三、由于切片过程不可避免产生切割痕迹，因此不能用投影技术进行TEM 测试。 分散聚四氟乙烯粉粒的超薄切片图像 改善TEM图像的特殊措施 三、染色 高聚物多由C、H、O、N等轻元素组成，电子散射能力弱，图像衬度低。 染色的基本原理 用含重金属的试剂对样品某一相或某一组分进行选择性处理，通过化学反应或者化学吸附使其结合重金属，而另一相或另一组分则没有，从而使它们对电子的散射能力产生显著差别，获得明显的衬度。 改善TEM图像的特殊措施 四