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ad转换芯片静态参数直方图测试法公式推导 the ascertainment of histogram method formula for analog to digital converter static parameters.pdfVIP

ad转换芯片静态参数直方图测试法公式推导 the ascertainment of histogram method formula for analog to digital converter static parameters.pdf

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ad转换芯片静态参数直方图测试法公式推导 the ascertainment of histogram method formula for analog to digital converter static parameters

测试技术卷 Test 图测 试法的静态参数计算公式。 2 关键词:A/D转换芯片;静态参数;直方囤测试法 中图分娄号:TN601 文献标识号:A 文章编号:1003—0107(2007)11—0012-05 the ^b-tr●ohweIntroducodetinrdonofD/Astatic for parameta阽(takingunblpotarexample),and method ascertainthehistogramformulaforstaticparameters) K●y_m一●lDigitaltoanalOgc,oRv@广ter;Staticp日阳mB佃隅;Sistogrammethod CLC hclWntoInt∞de=A INwmbiriTN601 ^rtIclo●D11003-0107(2007111—0012—05 试。在测试A/D时,激励A/D的J、t 1.引言 是说当x,fA/D激励一些量值=tf=:同 A/D转换芯片(阻下简称A/D)的模拟信号(这些信号量值虽然 是连续增长的模拟信号,当A/D将 的作用是将模拟信号转换为数字 不同但差值较小)时,输出的数 模拟输入转换成数字输出时,应 信号,被广泛应用于控制领域。 字信号却可能是相同的。^/D的 对模拟输入一直进行监测,当^/D 对A/D的测试分为静态参数测试 这种“多对一”的特性就导致 的数字输出发生变化,达到期龌 及动态参数测试。本文涉及的是 A/D的测试框架不同于传统的测 的数码时,监测i=}{此时的模拟信 静态参数测试。A/D的静态参数 试框架,即给定一个激励信号, 号值,这个值就是转换值。 测试系统主要由数字部分和模拟 只要澳4出相应的输出信号即可。 在图2可以看到两个特殊的转 部分组成。数字部分的作用是对 在对A/D测试时我们必须找到那 换值:V。。,和V。,做如下定义: A/D提供控制信号及捕获转换后 个使输出信号发生变化的激励信 V。。。是使数字输出-从仅次于 的数字量,要求有足够的向量深 号,获得这些激励信号后我们才 最人值的值变为最大值时的模拟 度并能够提供灵活复杂的时序。 对它们进甜计算,得到诸如偏 值。 模拟部分的作用是对D/A提供高 置、增益、线性特性这些参数 V。:.是使数字输出i从。变为1 精度低噪声的模拟信号和参考电 值。在测试中我们将这些激励信 时的模拟值。 压。其测试系统的结构框图如图 号的值称为转换值,图2足~个 这两个转换值在计算分辨率 理想8位^/D的转换值示意图。 对A/D进行测试必须意t!到 因为A/D输卅是~组数码, 很有意义的。 A/D的“多对一”的特性,也就 所以没有任何的输出电压需要测 在图2中可以看到对于一个 rs.Inc.,2003.515—518. 173

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