2011TaiwanAOIForumShow-自动光学检测设备联盟-工研院.docVIP

線上報名 11月11日截止報名；Early Bird優惠！10月31日前完成線上報名，一律適用會員價1,500元 網址一《工研院同仁專用連結》.tw/seminar/register/orgRegAdd.aspx?smncdnf=Y#hf 網址二《一般人士專用連結》.tw/onlinereg/RegAdd.aspx?msgnolag=N 相關連結 AOIEA個人會員免費入會網址《連結》.tw/member/join_step1.aspx 活動地點交通資訊《連結》.tw/HALL/v_map.htm 2011 Taiwan AOI Forum Show 產業趨勢專題演講 │ 設備一哥高峰座談 │ 40項前瞻AOI檢測技術發表 │ 30 Booths元件模組展示 歷屆規模與效益均受各方肯定的AOI論壇活動，今年持續盛會模式，仍將有產業趨勢專題演講、前瞻技術發表研討、以及供應商元件模組展示。除此之外，本次別開生面將有標竿企業經驗分享，邀請致茂、德律、均豪等企業主管座談，期能有助AOI後進企業踏穩步伐邁向國際。 均豪 面板設備龍頭-均豪，談成本降低之道 致茂FinanceAsia台灣最佳中型企業-致茂，拓展 德律 德律與國際領導品牌之巔峰交戰經驗 新商機之營運觀點 主協辦單位：自動光學檢測設備聯盟、工業技術研究院、台灣電子設備協會、電腦視覺監控產學研聯盟 日　　　期：100年11月17日（星期四） 地　　　點：新竹市大學路1號，交通大學 電子資訊中心大樓 費　　　用：每人NT$2,000，優惠AOIEA會員每人NT$1,500（請先入會再報名） 議　　　程： 國際會議廳 第四會議室 第一會議室 09:30 ~ 09:45 （第四會議室上午同步轉播） 09:45 ~ 10:30 專題演講 觸控產業發展與設備商機 經濟部精機小組 余子瀚經理 10:30 ~ 10:50 休息 10:50 ~ 12:00 企業座談 AOI企業站穩腳跟邁向國際 致茂電子 曾一士總經理、均豪精密 陳政興副總經理、德律科技 溫光溥資深經理 12:00 ~ 14:00 用餐 半導體/晶粒檢測FPD檢測 生醫/太陽光電檢測 元智大學工管系 蔡篤銘教授 友達光電設備處 溫孟川處長 14:00 ~ 14:15 ＊大面積Fθ同軸視覺掃描模組 工研院南分院雷射中心具自動對焦之三維形貌及膜厚量測模組之研製 工研院量測中心賴皇文頻閃式光學映射系統之研製 B03 14:15 ~ 14:30 ＊3D雷射感測器 F01碁仕科技白光干涉儀 台智精密高畫質擷取卡 F02圓剛科技 14:30 ~ 14:45 結構光條紋視覺系統表面量測 A04中華大學機械系基於SSE2指令集之機器視覺函式庫 C01台卝科大自動化所B02/E04，工研院電光所張銓仲 14:45 ~ 15:00 ＊3D量測在半導體領域之應用 F06，新亞洲儀器運動控制器 F03美商艾羅德克Basler Ace Carema Series F05，新加坡Basler 15:00 ~ 15:15 休息 休息 休息 15:15 ~ 15:30 數位干涉顯微鏡之相位移誤差利用軟體式演算法改良 A01，中正大學機械所背光滑鼠瑕疵檢測系統 D01育達科大多媒體系牙線棒瑕疵自動光學檢測之研究 D02高雄應科大機械系 15:30 ~ 15:45 閃頻偏極化干涉顯微鏡於三維輪廓量測 A02，中正大學光機電所R2R UV光學膜厚度量測技術 工研院量測中心陳俊賢太陽能板表面微裂痕檢測 清華大學動機所楊家翎 15:45 ~ 16:00 運用數位微鏡晶片之全域式彩色共焦顯微量測系統研發 A05，台灣大學機械所雙面微柱狀膜片的對位檢測方法與對位圖案分析 工研院量測中心董書屏太陽能模組EL瑕疵檢測 惠特科技林敬祐 16:00 ~ 16:15 應用線陣列光機取像裝置與二值化邊緣影像之晶片瑕疵檢測系統 D06，國研院儀科中心陳銘福二維濾鏡式彩色分析儀的光源特性量測應用 工研院量測中心卓嘉弘應用在太陽能電池上的花紋檢測技術 致茂電子鄭文瑋 16:15 ~ 16:30 多功能三維長景深真實色彩影像顯微鏡 致茂電子林思延 註：新技術發表編號為A～E，新產品發表編號為F；發表項目標示＊，將於現場Booths展示 洽詢電話：(03)574-3813、573-2225，AOIEA秘書處